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公开(公告)号：CN106569036B
公开(公告)日：2018-12-04
申请号：CN201610998805.9
申请日：2016-11-14
申请人： 中广核工程有限公司 , 清华大学 , 中国广核集团有限公司
IPC分类号： G01R27/02
摘要： 本发明公开了一种离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率和电导率的测试方法。电阻率测试方法包括以下步骤：1)提供包括辐照损伤层和离子辐照未损伤的基体层的离子辐照试样，测量离子辐照试样的总的电阻R0、离子辐照未损伤的基体层的厚度H2、离子辐照试样纯离子辐照损伤层10的厚度H1，离子辐照试样的长度L和宽度B；2)对离子辐照试样减薄，测量减薄后离子辐照试样的电阻R和减薄层的厚度H；以及3)根据以下数学计算公式计算离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率ρ1。本发明通过试验和计算推导相结合的方法获得离子辐照试样表层离子辐照损伤区域的电阻率和电导率，计算结果精确，测试方法简单易行，成本低廉。
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公开(公告)号：CN106569036A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610998805.9
申请日：2016-11-14
申请人： 中广核工程有限公司 , 清华大学 , 中国广核集团有限公司
IPC分类号： G01R27/02
CPC分类号： G01R27/02
摘要： 本发明公开了一种离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率的测试方法，其包括以下步骤：1)提供包括辐照损伤层和离子辐照未损伤的基体层的离子辐照试样，测量离子辐照试样的总的电阻R0和离子辐照未损伤的基体层的厚度H2；2)对离子辐照试样减薄，测量减薄后离子辐照试样的电阻R和减薄层的厚度H；以及3)根据以下数学计算公式计算离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率。此外，本发明还公开了一种离子辐照试样辐照损伤区域的电导率的测试方法。本发明离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率和电导率的测试方法通过试验和计算推导相结合的方法获得离子辐照试样表层离子辐照损伤区域的电阻率和电导率，计算结果精确，测试方法简单易行，成本低廉。
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公开(公告)号：CN110632489B
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN201910825129.9
申请日：2019-09-03
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 一种基于漏电流的IGBT结温监测电路及方法，该监测电路包括电流源型逆变电路，该电流源型逆变电路包括三相桥臂，每相桥臂包括上下两个半桥臂，每个半桥臂包括一个IGBT与一个二极管，所述IGBT与所述二极管串联连接，在所述二极管两端并联一漏电流获取单元，以获取IGBT的漏电流；还包括一IGBT结温获取单元，根据所述漏电流获取IGBT结温。本发明解决了电力电子变流器大幅度电流PWM中测量关断泄露电流的难题，不仅对电路没有侵入性，而且可以实现结温的实时在线监测，采样频率高，成本低，对于IGBT的监测和电力电子变流器的可靠性评估具有重要意义。
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公开(公告)号：CN110632489A
公开(公告)日：2019-12-31
申请号：CN201910825129.9
申请日：2019-09-03
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 一种基于漏电流的IGBT结温监测电路及方法，该监测电路包括电流源型逆变电路，该电流源型逆变电路包括三相桥臂，每相桥臂包括上下两个半桥臂，每个半桥臂包括一个IGBT与一个二极管，所述IGBT与所述二极管串联连接，在所述二极管两端并联一漏电流获取单元，以获取IGBT的漏电流；还包括一IGBT结温获取单元，根据所述漏电流获取IGBT结温。本发明解决了电力电子变流器大幅度电流PWM中测量关断泄露电流的难题，不仅对电路没有侵入性，而且可以实现结温的实时在线监测，采样频率高，成本低，对于IGBT的监测和电力电子变流器的可靠性评估具有重要意义。
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