本发明公开了一种离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率和电导率的测试方法。电阻率测试方法包括以下步骤：1)提供包括辐照损伤层和离子辐照未损伤的基体层的离子辐照试样，测量离子辐照试样的总的电阻R0、离子辐照未损伤的基体层的厚度H2、离子辐照试样纯离子辐照损伤层10的厚度H1，离子辐照试样的长度L和宽度B；2)对离子辐照试样减薄，测量减薄后离子辐照试样的电阻R和减薄层的厚度H；以及3)根据以下数学计算公式计算离子辐照试样辐照损伤区域的电阻率ρ1。本发明通过试验和计算推导相结合的方法获得离子辐照试样表层离子辐照损伤区域的电阻率和电导率，计算结果精确，测试方法简单易行，成本低廉。