一种相变存储器的处理方法
摘要:
本发明涉及一种相变存储器的处理方法。所述相变存储器包括晶体管和相变存储电阻单元,所述晶体管的漏极与所述相变存储电阻单元电连接,所述方法包括:步骤S1:在所述晶体管的栅极上施加电压,以导通所述晶体管,并将所述相变存储电阻单元的相变材料层中阴离子聚集的一端与脉冲电源的阴极电连接,所述相变材料层中阳离子聚集的一端与脉冲电源的阳极电连接;步骤S2:施加脉冲电压,以使发生迁移的所述阳离子复原,使发生成分偏析的所述相变材料层的成分恢复到正常。所述方法使发生迁移的所述阳离子复原,以修复所述相变材料层的组成,从而PCRAM非晶化操作(RESET)成功,提高PCRAM的性能。
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