发明授权
摘要:
本发明公开了一种光栅投影三维测量系统的误差校正方法,其目的在于当测量表面反射率低的物体时,利用图像调制度中承载的物体反射率信息,对原始图像进行像素调整,从而提高相位质量。其实现步骤为:首先用相机采集受物体影响的变形条纹;然后用采集到的图像计算调制度系数I"并将其进行归一化;设定分割阈值T,将所有I"<T的像素点分类,每一类中所有像素对应的I"值相近;对于每一类中所有像素,可以获取若干组N个灰度值,将这些组灰度值进行求均值,可获取一组灰度值曲线;最后用该组平均灰度值来替换该类中所有像素对应的N个灰度值,完成图像的校正工作。校正之后的图像可以用于计算相位,相位信息可以最终转化为待测物体的三维信息。
公开/授权文献
- CN106595522A 一种光栅投影三维测量系统的误差校正方法 公开/授权日:2017-04-26