Invention Grant
- Patent Title: 硅工艺量子点像素单元电路、传感器及信号采集方法
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Application No.: CN201611092374.6Application Date: 2016-11-30
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Publication No.: CN106686328BPublication Date: 2019-09-13
- Inventor: 任铮 , 赵宇航 , 温建新 , 李琛
- Applicant: 上海集成电路研发中心有限公司 , 成都微光集电科技有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区上海浦东张江高斯路497号
- Assignee: 上海集成电路研发中心有限公司,成都微光集电科技有限公司
- Current Assignee: 上海集成电路研发中心有限公司,成都微光集电科技有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区上海浦东张江高斯路497号
- Agency: 上海天辰知识产权代理事务所
- Agent 吴世华; 陈慧弘
- Main IPC: H04N5/378
- IPC: H04N5/378 ; H01L27/146
Abstract:
本发明提供了一种硅工艺量子点像素单元电路、传感器及信号采集方法。该像素单元电路至少包括信号读出电路单元、量子点光敏电阻以及与之并联的MOS电容。信号读出电路单元包括一个电平复位管、一个信号传输管、一个源跟随器、一个行选控制输出管共4个MOSFET组成。量子点光敏电阻的一端提供参考电平,另一端与作为信号传输MOSFET的电平复位管的源极相连。入射光线强弱将会改变量子点光敏电阻的大小,从而改变流经量子点光敏电阻的电流。信号读出电路在曝光时间内将量子点光敏电阻电流进行积分得到光生电压,从而可以通过光生电压的数值精确反映入射光线的强弱。
Public/Granted literature
- CN106686328A 硅工艺量子点像素单元电路、传感器及信号采集方法 Public/Granted day:2017-05-17
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