发明公开
CN106768398A 一种光源相位噪声的测试方法及装置
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种光源相位噪声的测试方法及装置
- 专利标题(英): Light source phase noise test method and light source phase noise test device
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申请号: CN201611091652.6申请日: 2016-12-01
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公开(公告)号: CN106768398A公开(公告)日: 2017-05-31
- 发明人: 陆凯
- 申请人: 长沙聚宇光电科技有限公司
- 申请人地址: 湖南省长沙市岳麓区高新开发区麓天路28号金瑞麓谷科技园B-3栋401号
- 专利权人: 长沙聚宇光电科技有限公司
- 当前专利权人: 长沙聚宇光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市岳麓区高新开发区麓天路28号金瑞麓谷科技园B-3栋401号
- 代理机构: 长沙市融智专利事务所
- 代理商 龚燕妮
- 主分类号: G01J9/02
- IPC分类号: G01J9/02 ; G01M11/00
摘要:
本发明公开了一种光源相位噪声的测试方法及装置,该方法首先在光纤干涉仪的一路延迟光纤上设置相位调制器,并对相位调制器加载调制信号;其次将光源信号沿光纤传输至光纤干涉仪,通过调制信号调制光纤干涉仪生成的干涉信号;最后利用相位生成载波解调方法或者工作点控制的方法对被调制的干涉信号进行解调,获得光源的相位噪声信号,实现光源相位噪声的测量。该装置通过在光纤干涉仪的一路延迟光纤上设置相位调制器,巧妙的使用具有短程差的光纤干涉仪,同步进行相位调制和干涉信号采集,根据干涉的调制波形,通过解调算法计算出相位噪声,完成光源相位噪声的直接测量。不需要高频探测器和高频采集系统,大大简化了系统的结构,降低了产品的价格。