Invention Grant
- Patent Title: PID性能评估方法
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Application No.: CN201611095909.5Application Date: 2016-12-02
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Publication No.: CN106774243BPublication Date: 2019-07-30
- Inventor: 王丁丁 , 李海强 , 张艳辉
- Applicant: 浙江中控软件技术有限公司
- Applicant Address: 浙江省杭州市滨江区六和路309号中控科技园D区四楼
- Assignee: 浙江中控软件技术有限公司
- Current Assignee: 浙江中控软件技术有限公司
- Current Assignee Address: 浙江省杭州市滨江区六和路309号中控科技园D区四楼
- Agency: 杭州华鼎知识产权代理事务所
- Agent 项军
- Main IPC: G05B23/02
- IPC: G05B23/02

Abstract:
本发明提出了PID性能评估方法,属于自动化控制领域,包括获取控制回路的生产数据和数据质量码,根据数据质量码对生产数据进行处理得到处理后的生产数据序列,结合预设的过程模型得到更新后的响应时间,进而获取与控制回路对应的性能评价参数,根据性能评价参数确定控制回路的性能等级。通过获取包括控制回路的测量值、设定值、操作值在内的多种数据,并且构建了用于对控制回路内的响应时间进行更新的过程模型,基于获取到的数据对控制回路的性能进行评估,同时能够基于过程模型结合获取到的多种数据对评估标准进行迭代更新,相对于现有技术能够降低因未能及时进行人工维护导致控制性能恶化的可能性,减少控制回路出现安全隐患的概率。
Public/Granted literature
- CN106774243A PID性能评估方法 Public/Granted day:2017-05-31
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