- 专利标题: 一种GaN基发光二极管的外延片及其制造方法
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申请号: CN201611117247.7申请日: 2016-12-07
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公开(公告)号: CN106784211B公开(公告)日: 2019-03-08
- 发明人: 李红丽 , 胡加辉
- 申请人: 华灿光电(浙江)有限公司
- 申请人地址: 浙江省金华市义乌市苏溪镇徐丰村(浙江四达工具有限公司内)
- 专利权人: 华灿光电(浙江)有限公司
- 当前专利权人: 华灿光电(浙江)有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省金华市义乌市苏溪镇徐丰村(浙江四达工具有限公司内)
- 代理机构: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 徐立
- 主分类号: H01L33/06
- IPC分类号: H01L33/06 ; H01L33/12 ; H01L33/32 ; H01L33/00
摘要:
本发明公开了一种GaN基发光二极管的外延片及其制造方法,属于半导体技术领域。外延片包括衬底、以及依次层叠在衬底上的缓冲层、成核层、未掺杂GaN层、N型GaN层、N型隔离层、应力释放层、量子阱、P型GaN层,N型隔离层中N型掺杂剂的掺杂浓度小于N型GaN层中N型掺杂剂的掺杂浓度,N型隔离层的厚度小于N型GaN层的厚度。本发明通过在N型GaN层上形成N型隔离层,可以阻隔由于晶格失配和热失配形成的应力位错,有效限制位错处形成的V形坑的开口大小,延迟V形坑的开口形成,有利于外延片进行应力释放,形成P型层时V形坑得到合并,最后形成平整的表面,大大改善外延片的晶体质量,芯片反向击穿电压提升50%左右。
公开/授权文献
- CN106784211A 一种GaN基发光二极管的外延片及其制造方法 公开/授权日:2017-05-31
IPC分类: