Invention Publication
- Patent Title: 预倾角测定装置及预倾角测定方法
- Patent Title (English): Pretilt Angle Measurement Device And Pretilt Angle Measurement Method
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Application No.: CN201611166680.XApplication Date: 2016-12-16
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Publication No.: CN106918308APublication Date: 2017-07-04
- Inventor: 杉田一宏 , 稻野大辅 , 今坂真子
- Applicant: 大塚电子株式会社
- Applicant Address: 日本国大阪府枚方市招提田近三丁目26番3号
- Assignee: 大塚电子株式会社
- Current Assignee: 大塚电子株式会社
- Current Assignee Address: 日本国大阪府枚方市招提田近三丁目26番3号
- Agency: 北京瑞盟知识产权代理有限公司
- Agent 刘昕
- Priority: 2015-254852 20151225 JP
- Main IPC: G01B11/26
- IPC: G01B11/26 ; G02F1/13

Abstract:
本发明提供能抑制误差的预倾角测定装置及预倾角测定方法。预倾角测定装置(1)具备:透射测定投光部(2),其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射偏振的测定光;透射测定受光部(3),其接收测定光的透射光,获取透射光的偏振状态;倾斜测定投光部(41),其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射倾斜检测用光(L1);倾斜测定受光部(43),其接收倾斜检测用光(L1)的反射光(L2),获取反射光(L2)的受光位置;和控制部(10),其根据反射光(L2)的受光位置,算出液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角,根据测定光的照射角度、液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角和透射光的偏振状态,算出液晶基板(LC)中所含的液晶分子的预倾角。
Public/Granted literature
- CN106918308B 预倾角测定装置及预倾角测定方法 Public/Granted day:2020-10-02
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