- 专利标题: 利用静力触探比贯入阻力确定旁压试验基准水平基床系数的方法
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申请号: CN201710391163.0申请日: 2017-05-27
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公开(公告)号: CN107022995B公开(公告)日: 2019-04-02
- 发明人: 涂启柱 , 熊大生 , 吴守富 , 王忠华 , 黄俊杰 , 米军 , 于廷新 , 张燕 , 谢凡
- 申请人: 中铁第四勘察设计院集团有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市武昌杨园和平大道745号
- 专利权人: 中铁第四勘察设计院集团有限公司
- 当前专利权人: 中铁第四勘察设计院集团有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武昌杨园和平大道745号
- 代理机构: 武汉开元知识产权代理有限公司
- 代理商 黄行军; 刘琳
- 主分类号: E02D1/02
- IPC分类号: E02D1/02
摘要:
本发明公开了利用静力触探比贯入阻力确定旁压试验基准水平基床系数的方法,包括步骤:1)对测量地区土层进行静力触探试验,采集测量地区的静力触探比贯入阻力ps;2)通过计算获得旁压试验基准水平基床系数Kh1,计算公式为:对于黏性土:对于砂类土:Kh1=6.57ps。本发明可通过静力触探比贯入阻力ps快速、准确、经济地获取地层的旁压试验基准水平基床系数,为工程设计提供参考。本发明在不增加测试技术手段的前提下,解决了利用静力触探测试技术直接快速测试原本需要旁压试验才能得到旁压试验基准水平基床系数的问题,拓展了静力触探的应用功能,节约了勘察成本,提高了效率,效果明显。
公开/授权文献
- CN107022995A 利用静力触探比贯入阻力确定旁压试验基准水平基床系数的方法 公开/授权日:2017-08-08