发明授权
CN107064219B 一种基于趋肤效应的铁磁性导体表面硬度测量方法及系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种基于趋肤效应的铁磁性导体表面硬度测量方法及系统
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申请号: CN201610958136.2申请日: 2016-10-27
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公开(公告)号: CN107064219B公开(公告)日: 2020-04-07
- 发明人: 杨勇 , 杨文璐 , 杨远聪 , 王华俊 , 安虹宇
- 申请人: 中国地质大学(武汉)
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号中国地质大学(武汉)地质资源环境工业技术研究院
- 专利权人: 中国地质大学(武汉)
- 当前专利权人: 中国地质大学(武汉)
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号中国地质大学(武汉)地质资源环境工业技术研究院
- 代理机构: 北京轻创知识产权代理有限公司
- 代理商 杨立; 陈振玉
- 主分类号: G01N27/00
- IPC分类号: G01N27/00
摘要:
本发明涉及基于趋肤效应的铁磁性导体材料表面硬度测量方法及系统,其系统包括交流恒流信号模块、交流电压检测模块和主控制模块。交流恒流信号模块为标样或待测样品提供高频或低频交流恒流信号;交流电压检测模块检测不同已知表面硬度HS(i)的标样上两个目标检测点之间的高频电压值VSH(i);还检测待测样品上两个目标检测点之间的高频电压值VSH';主控制模块绘制标样的表面硬度HS(i)随高频电压值VSH(i)的变化曲线HS(i)~VSH(i);还在变化曲线HS(i)~VSH(i)中读取所述高频电压值VSH'对应的待测样品表面硬度HS'(i)。本发明受表面影响小,可检测表面复杂和表面有污染等样品,没有提离度问题,对样品几何参数无定量要求,测试简单可靠,还可用于评估待测样品表面硬度强化层的深度。
公开/授权文献
- CN107064219A 一种基于趋肤效应的铁磁性导体表面硬度测量方法及系统 公开/授权日:2017-08-18