发明公开
CN107202636A 一种M‑Z短波红外成像光谱仪
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种M‑Z短波红外成像光谱仪
- 专利标题(英): M-Z shortwave infrared imaging spectrometer
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申请号: CN201710482094.4申请日: 2017-06-22
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公开(公告)号: CN107202636A公开(公告)日: 2017-09-26
- 发明人: 白清兰 , 胡炳樑 , 赵强 , 熊望娥 , 李芸 , 闫鹏 , 李立波
- 申请人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理商 胡乐
- 主分类号: G01J3/28
- IPC分类号: G01J3/28 ; G01J3/45 ; G01J3/02
摘要:
本发明提出一种M‐Z短波红外成像光谱仪,能有效地实现高分辨宽视场并工作于短波红外谱段的光谱探测。该M‐Z短波红外成像光谱仪包括物镜成像系统以及设置于物镜成像系统后端会聚光路中的M‐Z干涉仪;所述物镜成像系统采用正‐负‐正光焦度分配的无中间像面的离轴三反型式;所述M‐Z干涉仪主要由两块立方分束棱镜和两块带偏角的90°五角反射棱镜组成,当来自物镜的成像光束进入第一块立方分束棱镜后,光束被分成两束,分别进入上下两块90°五角反射棱镜中,两块90°五角反射棱镜分别将光线折转90°后进入第二块立方分束棱镜后合并,在像面处形成干涉图调制的目标景物图像。
公开/授权文献
- CN107202636B 一种M-Z短波红外成像光谱仪 公开/授权日:2019-01-22