- 专利标题: 用于校准差分电路中跨导或增益随工艺或条件变化的方法和设备
- 专利标题(英): Methods and apparatus for calibrating for transconductance or gain over process or condition variations in differential circuits
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申请号: CN201580072655.2申请日: 2015-12-11
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公开(公告)号: CN107210716A公开(公告)日: 2017-09-26
- 发明人: 李淼 , 孙立 , 朱志
- 申请人: 高通股份有限公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 高通股份有限公司
- 当前专利权人: 高通股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 北京市金杜律师事务所
- 代理商 王茂华; 张宁
- 优先权: 14/595,106 20150112 US
- 国际申请: PCT/US2015/065358 2015.12.11
- 国际公布: WO2016/114882 EN 2016.07.21
- 进入国家日期: 2017-07-06
- 主分类号: H03F3/45
- IPC分类号: H03F3/45 ; H03K19/003 ; H03K19/0185
摘要:
提供了一种设备。设备包括被配置用于产生参考信号的校准电路,以及每个配置用于基于参考信号在随工艺或条件变化的经校准跨导下操作的至少一个差分电路。可以配置校准电路以独立于至少一个差分电路而产生参考信号。提供了一种用于操作至少一个差分电路的方法。方法包括产生参考信号并且基于参考信号在随工艺或条件变化的经校准跨导或增益下操作至少一个差分电路。可以独立于至少一个差分电路而产生参考信号。
公开/授权文献
- CN107210716B 用于校准差分电路中跨导或增益随工艺或条件变化的方法和设备 公开/授权日:2021-05-28