Invention Publication
- Patent Title: 一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法
- Patent Title (English): Method for quantitative analysis of elements in unknown sample by spectrum combined with mass spectrometry
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Application No.: CN201710616091.5Application Date: 2017-07-26
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Publication No.: CN107271429APublication Date: 2017-10-20
- Inventor: 丁洪斌 , 赵栋烨 , 刘佳敏 , 孙立影 , 吴鼎 , 张磊
- Applicant: 大连理工大学
- Applicant Address: 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
- Assignee: 大连理工大学
- Current Assignee: 大连理工大学
- Current Assignee Address: 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
- Main IPC: G01N21/71
- IPC: G01N21/71 ; G01N27/64

Abstract:
本发明公开了一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法。使用激光诱导击穿光谱结合二级引出场飞行时间质谱(TOF)的定量分析,能够实现高探测灵敏度、实时、快速、高精度、无接触式、多元素同时检出且样品无需预处理的定量分析。其中该方法中的双波长激光,便于再次电离光碎片及分子团簇,提高质谱信号稳定性,增强激光等离子体发射光谱信号;该方法中二级引出场,便于提高TOF质谱分辨率以及优化信号;该方法中的飞行时间质谱,一可以对未知样品中元素进行快速判断,节省分析时间,实现实时定量分析,二可以校正基体效应以及材料表面形貌对光谱定量分析的影响,还可以探测发射光谱无法探测的暗态物种,有利于提高定量分析准确度。
Public/Granted literature
- CN107271429B 一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法 Public/Granted day:2020-01-10
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