• Patent Title: 一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法
  • Patent Title (English): Method for quantitative analysis of elements in unknown sample by spectrum combined with mass spectrometry
  • Application No.: CN201710616091.5
    Application Date: 2017-07-26
  • Publication No.: CN107271429A
    Publication Date: 2017-10-20
  • Inventor: 丁洪斌赵栋烨刘佳敏孙立影吴鼎张磊
  • Applicant: 大连理工大学
  • Applicant Address: 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
  • Assignee: 大连理工大学
  • Current Assignee: 大连理工大学
  • Current Assignee Address: 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
  • Main IPC: G01N21/71
  • IPC: G01N21/71 G01N27/64
一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法
Abstract:
本发明公开了一种光谱结合质谱的未知样品中元素的定量分析方法。使用激光诱导击穿光谱结合二级引出场飞行时间质谱(TOF)的定量分析,能够实现高探测灵敏度、实时、快速、高精度、无接触式、多元素同时检出且样品无需预处理的定量分析。其中该方法中的双波长激光,便于再次电离光碎片及分子团簇,提高质谱信号稳定性,增强激光等离子体发射光谱信号;该方法中二级引出场,便于提高TOF质谱分辨率以及优化信号;该方法中的飞行时间质谱,一可以对未知样品中元素进行快速判断,节省分析时间,实现实时定量分析,二可以校正基体效应以及材料表面形貌对光谱定量分析的影响,还可以探测发射光谱无法探测的暗态物种,有利于提高定量分析准确度。
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