Invention Grant
- Patent Title: 同轴掩模对准装置、光刻设备及对准方法
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Application No.: CN201610200702.3Application Date: 2016-03-31
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Publication No.: CN107290943BPublication Date: 2019-01-29
- Inventor: 张成爽
- Applicant: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张东路1525号
- Assignee: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- Current Assignee: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张东路1525号
- Agency: 上海思微知识产权代理事务所
- Agent 屈蘅; 李时云
- Main IPC: G03F9/00
- IPC: G03F9/00
Abstract:
本发明揭示了一种同轴掩模对准装置、光刻设备及对准方法。所述同轴掩模对准装置包括照明模块,提供对准光束;投影物镜,位于所述掩模版下方;基准板,位于所述工件台上,承载基准参考标记;以及图像探测和处理模块,位于所述基准板下方,随着所述工件台移动,且所述基准参考标记位于所述图像探测和处理模块的视场范围内,所述图像探测和处理模块用于接收依次经过所述掩模对准标记、投影物镜及基准参考标记的对准光束,得到所述掩模对准标记与所述基准参考标记的成像,经过处理后得到所述掩模对准标记与所述基准参考标记的相对位置信息,用于所述掩模版与所述工件台对准。本发明采用自带独立式照明,结构简单,操作便捷,提高了对准效率。
Public/Granted literature
- CN107290943A 同轴掩模对准装置、光刻设备及对准方法 Public/Granted day:2017-10-24
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