Invention Publication
- Patent Title: 一种层状介质介电常数和厚度同时反演算法
- Patent Title (English): Simultaneous inversion algorithm for dielectric constant and thickness of layered medium
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Application No.: CN201710293854.7Application Date: 2017-04-28
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Publication No.: CN107305226APublication Date: 2017-10-31
- Inventor: 刘海 , 龙志军 , 邢邦安 , 陈强 , 韩峰 , 朱锦锋 , 柳清伙
- Applicant: 厦门大学
- Applicant Address: 福建省厦门市思明区思明南路422号
- Assignee: 厦门大学
- Current Assignee: 厦门大学
- Current Assignee Address: 福建省厦门市思明区思明南路422号
- Agency: 厦门市新华专利商标代理有限公司
- Agent 朱凌
- Main IPC: G01R27/26
- IPC: G01R27/26 ; G01B7/06

Abstract:
本发明一种层状介质介电常数和厚度同时反演算法,利用菲涅尔定律及射线跟踪原理,考虑到电磁波在不同介质中的折射性质,精准计算出不同天线收发偏移距下信号旅行时的值;对于多层层状介质的探测,将计算得到的上一层的电磁参数作为已知,迭代反演出以下多层层状介质的介电常数和厚度,解决了传统的速度谱反演算法对于多层层状介质反演的精度不够的问题。
Public/Granted literature
- CN107305226B 一种层状介质介电常数和厚度同时反演算法 Public/Granted day:2019-06-25
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