Invention Publication
- Patent Title: 深沟槽结构的制作方法、半导体器件及电子装置
- Patent Title (English): Fabrication method of deep-groove structure, semiconductor device and electronic device
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Application No.: CN201610240670.XApplication Date: 2016-04-18
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Publication No.: CN107305859APublication Date: 2017-10-31
- Inventor: 蔡超 , 王蛟
- Applicant: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 , 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江路18号
- Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- Current Assignee: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江路18号
- Agency: 北京市磐华律师事务所
- Agent 高伟; 张建
- Main IPC: H01L21/762
- IPC: H01L21/762

Abstract:
本发明提供一种深沟槽结构的制作方法、半导体器件及电子装置,该制作方法包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底中形成第一沟槽,并在所述第一沟槽的侧壁上形成间隙壁;在所述半导体衬底中在所述第一沟槽下方形成第二沟槽;通过热氧化法在所述第二沟槽的表面和所述第一沟槽靠近所述第二沟槽的部分侧壁上形成氧化层,以使所述间隙壁靠近所述第二沟槽的部分倾斜并封闭所述第二沟槽;填充所述第一沟槽。该制作方法可以形成填充良好的深沟槽结构,具有较高的耐压性。该半导体器件和电子装置具有良好的工艺稳定性,以及耐压性。
Public/Granted literature
- CN107305859B 深沟槽结构的制作方法、半导体器件及电子装置 Public/Granted day:2020-03-10
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IPC分类: