发明授权
- 专利标题: 一种通过逐次逼近方式校正运放失调的电路
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申请号: CN201710453935.9申请日: 2017-06-15
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公开(公告)号: CN107342740B公开(公告)日: 2020-07-07
- 发明人: 王红义 , 吴凯 , 乔泽宇 , 周罡 , 曹灿
- 申请人: 西安华泰半导体科技有限公司
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区唐延南路十一号3幢1单元11834室
- 专利权人: 西安华泰半导体科技有限公司
- 当前专利权人: 西安华泰半导体科技有限公司
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区唐延南路十一号3幢1单元11834室
- 代理机构: 西安通大专利代理有限责任公司
- 代理商 徐文权
- 主分类号: H03F1/26
- IPC分类号: H03F1/26
摘要:
一种通过逐次逼近方式校正运放失调的电路,包括运算放大器模块、比较器模块、控制逻辑单元、四位逐次逼近寄存器和四位DAC模块;比较器模块的同相端连接运算放大器模块的输出电压,比较器模块的反相端连接VDD/2;比较器模块的输出端连接逻辑控制单元;逻辑控制单元的输出端连接四位逐次逼近寄存器;四位逐次逼近寄存器的四个输出端口和四位DAC模块四个输入端连接;四位DAC模块的电压输出端连接运算放大器模块。校正失调按逐次逼近(SAR)的方式进行校正,仅需要与校正位数相同数目的时钟周期就可以完成校正的过程,提高了校正的速度。
公开/授权文献
- CN107342740A 一种通过逐次逼近方式校正运放失调的电路 公开/授权日:2017-11-10