发明公开
CN107424947A 薄膜电池工艺设备的温度测试方法及系统
无效 - 撤回
- 专利标题: 薄膜电池工艺设备的温度测试方法及系统
- 专利标题(英): Temperature test method and system of thin film battery process equipment
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申请号: CN201710702555.4申请日: 2017-08-16
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公开(公告)号: CN107424947A公开(公告)日: 2017-12-01
- 发明人: 张孟湜
- 申请人: 君泰创新(北京)科技有限公司
- 申请人地址: 北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街2号院66号楼7层805
- 专利权人: 君泰创新(北京)科技有限公司
- 当前专利权人: 君泰创新(北京)科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街2号院66号楼7层805
- 代理机构: 北京维澳专利代理有限公司
- 代理商 周放; 姜溯洲
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67 ; H01L31/18 ; G01K7/02
摘要:
本发明提供了一种薄膜电池工艺设备的温度测试方法及系统,该方法包括:步骤S1、使测试装置依次进入工艺设备的进片腔、加热腔、工艺腔、冷却腔和出片腔,并依次测试并同时存储加热腔、工艺腔和冷却腔中各个加热区的当前温度;步骤S2、将当前温度与预设温度进行比对,根据比对结果调整加热腔、工艺腔和冷却腔中的各个加热区的加热器的加热温度。本发明提供的薄膜电池工艺设备的温度测试方法及系统通过测试装置来测试热腔、工艺腔和冷却腔中各个加热区的当前温度,将当前温度存储在存储装置中,并调整加热器的加热温度,使当前温度升高或降低,提高了薄膜电池的加工质量。