Invention Publication
- Patent Title: 一种基于面阵相机芯片的电离辐射计量方法和装置
- Patent Title (English): Ionizing radiation measuring method and device based on area array camera chip
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Application No.: CN201710610045.4Application Date: 2017-07-25
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Publication No.: CN107450091APublication Date: 2017-12-08
- Inventor: 高能越 , 李少白 , 杨如林 , 王凯莉 , 张旭景
- Applicant: 苏州德锐特成像技术有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园16-A203
- Assignee: 苏州德锐特成像技术有限公司
- Current Assignee: 苏州德锐特成像技术有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园16-A203
- Agency: 北京汇信合知识产权代理有限公司
- Agent 夏静洁
- Main IPC: G01T1/08
- IPC: G01T1/08 ; G01T1/16

Abstract:
本发明涉及一种基于面阵相机芯片的电离辐射计量方法和装置,包括以下步骤:S1:使用面阵相机芯片捕获电离辐射粒子及射线光子,将其转换为数字信号;S2:处理面阵相机芯片产生的数字信号,并且输出电离辐射剂量;S3:将电离辐射剂量进行数字化或图形化显示,本发明采用面阵相机芯片探测电离辐射,可以实现多通道探测,数据输出效率高,并且不含现有技术中的高压转换电路,电路简单可靠,使用方便,可以探测单个电离辐射粒子或射线光子,结合连通域算法和二维高斯分布函数可以实现高精度的电离辐射剂量探测,并且可以探测电离辐射的能量,可以推断当前场景的电离辐射危害等级。
Public/Granted literature
- CN107450091B 一种基于面阵相机芯片的电离辐射计量方法和装置 Public/Granted day:2020-01-03
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