发明公开
- 专利标题: 一种变形监测孔有效孔径测量装置及其操作方法
- 专利标题(英): Apparatus for measuring effective hole diameter of deformation monitoring hole and operation method thereof
-
申请号: CN201710579879.3申请日: 2017-07-17
-
公开(公告)号: CN107478166A公开(公告)日: 2017-12-15
- 发明人: 李新平 , 瞿登星 , 郭运华 , 刘斓 , 徐坤 , 赵连锐 , 吴楠 , 林丹 , 吕鹏飞
- 申请人: 武汉理工大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- 专利权人: 武汉理工大学
- 当前专利权人: 武汉理工大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- 代理机构: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
- 代理商 张惠玲
- 主分类号: G01B11/12
- IPC分类号: G01B11/12 ; G01B11/00 ; G01N21/88
摘要:
本发明公开了一种变形监测孔有效孔径测量装置及其操作方法,包括探测机构及控制台;探测机构包括支撑腿、激光测距仪、探测杆和测量装置主体,测量装置主体与控制台通过线路连接;支撑腿通过螺纹连接在测量装置主体的侧壁上;激光测距仪通过探测杆安装在测量装置主体的中心,其探头内置重锤与罗盘实现探头可沿垂直方向上移动以及沿360°方向上旋转;激光测距仪测得的数据通过探测杆及电缆线传输到控制台;控制台包括操作系统、数据采集转换系统和数据显示系统,操作系统包括上升按钮、下降按钮、探头旋转按钮和扫描按钮,数据采集转换系统用于记录扫描数据并转换成图形数据。本发明不仅能够对有效孔径进行检验,还可以检验变形监测孔的质量。