- 专利标题: 半导体装置、制造方法、固态成像元件和电子设备
- 专利标题(英): Semiconductor device, manufacturing method, solid-state image pickup element, and electronic apparatus
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申请号: CN201680023993.1申请日: 2016-05-06
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公开(公告)号: CN107534014A公开(公告)日: 2018-01-02
- 发明人: 羽根田雅希
- 申请人: 索尼公司
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 索尼公司
- 当前专利权人: 索尼公司
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
- 代理商 王新春; 曹正建
- 优先权: 2015-104705 20150522 JP
- 国际申请: PCT/JP2016/063630 2016.05.06
- 国际公布: WO2016/190059 JA 2016.12.01
- 进入国家日期: 2017-10-25
- 主分类号: H01L21/768
- IPC分类号: H01L21/768 ; H01L21/3205 ; H01L23/522 ; H01L23/532 ; H01L27/14 ; H04N5/369
摘要:
本公开涉及一种进一步提高了可靠性的半导体装置、制造方法、固态成像元件和电子设备。在分别设置于传感器基板的配线层中和信号处理基板的配线层中的层间膜内形成有用于使所述传感器基板和所述信号处理基板彼此电气连接的连接焊盘,所述传感器基板上形成有具有像素的传感器表面,所述信号处理基板对所述传感器基板进行信号处理。然后,在所述传感器基板的层间膜和所述信号处理基板的层间膜之间、在所述传感器基板侧形成的连接焊盘和所述信号处理基板侧的层间膜之间以及在所述信号处理基板侧形成的连接焊盘和在所述传感器基板侧的层间膜之间形成有金属氧化膜。本技术可以适用于例如层叠型CMOS图像传感器。
公开/授权文献
- CN107534014B 半导体装置、制造方法、固态成像元件和电子设备 公开/授权日:2022-04-12
IPC分类: