发明公开
- 专利标题: 射频测试系统
- 专利标题(英): Radio frequency test system
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申请号: CN201610482046.0申请日: 2016-06-27
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公开(公告)号: CN107547144A公开(公告)日: 2018-01-05
- 发明人: 王远 , 吴昊 , 曹进 , 陈国华 , 王继中 , 朱楠
- 申请人: 中兴通讯股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部
- 专利权人: 中兴通讯股份有限公司
- 当前专利权人: 中兴通讯股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部
- 代理机构: 北京派特恩知识产权代理有限公司
- 代理商 姚开丽; 张振伟
- 主分类号: H04B17/00
- IPC分类号: H04B17/00 ; H04W24/06
摘要:
本发明实施例提供一种射频测试系统,系统包括:高集成射频测试芯片,用于接收控制信号,根据控制信号选择待测基站的待测通道,或选择测试仪表与待测通道之间的连接关系,或选择测量时钟输出的工作模式;控制单片机,用于接收测试计算机发送的控制指令,根据控制指令生成相应的控制信号并发送给高集成射频测试芯片;测试计算机,用于向控制单片机发送控制指令;获取待测基站的误块率,配置待测基站的小区参数;测试仪表,用于接收待测通道上的射频信号,或向待测通道发送有用信号或干扰信号;待测基站,用于向高集成射频测试芯片发送射频信号,接收并解调有用信号。
公开/授权文献
- CN107547144B 射频测试系统 公开/授权日:2021-09-28