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公开(公告)号：CN118215059A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202211637432.4
申请日：2022-12-16
申请人： 中兴通讯股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种基站测试装置，用以解决基站整体性能测试效率低的问题。本申请提供的装置包括测试容器，测试容器用于容纳待测基站；多个测试天线，多个测试天线设置在测试容器朝向待测基站的内表面；高阻抗表面阵列，高阻抗表面阵列设置在测试容器的内表面，其中，高阻抗表面阵列包括多个导电贴片，多个导电贴片分布设置于多个测试天线之间，导电贴片接地且设置有缝隙结构。
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公开(公告)号：CN116953373A
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202210407451.1
申请日：2022-04-18
申请人： 中兴通讯股份有限公司
IPC分类号： G01R29/10
摘要： 本申请提供了一种实现方向图测试的方法、电子设备、计算机可读介质，实现方向图测试的方法包括：根据波束指向所需要分析的第一指标对应的第一角度范围计算方向图测试所需要的第二角度范围；根据单次测量时间确定所述第二角度范围对应的测试速度；生成第一控制信号，所述第一控制信号用于控制转台的第一轴转到指定角度，以及控制所述转台的第二轴在所述第二角度范围内按照所述第二角度范围对应的测试速度进行转动，以进行测试。
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公开(公告)号：CN107547458A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201610482310.0
申请日：2016-06-28
申请人： 中兴通讯股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种IQ调制中镜像抑制参数的设置方法、装置及射频拉远单元。其中方法包括：预设IQ调制器的IQ信号的相位偏移和 以及获取在该 和 下，该IQ调制器的镜像泄漏信号的功率P1和P2；预设该IQ调制器的IQ信号中的I路分量和Q路分量之间的归一化幅度比G1和G2，以及获取在G1和G2下，该IQ调制器的镜像泄漏信号的功率P3和P4；获取基于该 P1和P2而得到该镜像抑制参数中的相位调整值；获取基于该G1、G2、P3和P4而得到该镜像抑制参数中的第一幅度调整值，并获取为预设值的该镜像抑制参数中的第二幅度调整值；以及将该相位调整值、该第一幅度调整值以及该第二幅度调整值设置至模数转换器DAC中，其中该DAC为该IQ调制器的前端电路。以上方式，可以减少确定镜像抑制参数时的复杂度。
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公开(公告)号：CN107547144A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201610482046.0
申请日：2016-06-27
申请人： 中兴通讯股份有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种射频测试系统，系统包括：高集成射频测试芯片，用于接收控制信号，根据控制信号选择待测基站的待测通道，或选择测试仪表与待测通道之间的连接关系，或选择测量时钟输出的工作模式；控制单片机，用于接收测试计算机发送的控制指令，根据控制指令生成相应的控制信号并发送给高集成射频测试芯片；测试计算机，用于向控制单片机发送控制指令；获取待测基站的误块率，配置待测基站的小区参数；测试仪表，用于接收待测通道上的射频信号，或向待测通道发送有用信号或干扰信号；待测基站，用于向高集成射频测试芯片发送射频信号，接收并解调有用信号。
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公开(公告)号：CN107547458B
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN201610482310.0
申请日：2016-06-28
申请人： 中兴通讯股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种IQ调制中镜像抑制参数的设置方法、装置及射频拉远单元。其中方法包括：预设IQ调制器的IQ信号的相位偏移和以及获取在该和下，该IQ调制器的镜像泄漏信号的功率P1和P2；预设该IQ调制器的IQ信号中的I路分量和Q路分量之间的归一化幅度比G1和G2，以及获取在G1和G2下，该IQ调制器的镜像泄漏信号的功率P3和P4；获取基于该P1和P2而得到该镜像抑制参数中的相位调整值；获取基于该G1、G2、P3和P4而得到该镜像抑制参数中的第一幅度调整值，并获取为预设值的该镜像抑制参数中的第二幅度调整值；以及将该相位调整值、该第一幅度调整值以及该第二幅度调整值设置至模数转换器DAC中，其中该DAC为该IQ调制器的前端电路。以上方式，可以减少确定镜像抑制参数时的复杂度。
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公开(公告)号：CN103036834A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201110300681.X
申请日：2011-09-30
申请人： 中兴通讯股份有限公司
CPC分类号： H04B1/0483
摘要： 本发明公开了一种信号发射方法及装置、收发信机，该方法包括：将射频功放输出的单端信号转换为两路差分信号，其中，所述两路差分信号的幅度相等，且所述两路差分信号的相位相差180度；将所述两路差分信号分别加载到天线上进行发射。通过本发明，提高基带处理的性能。
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公开(公告)号：CN107547144B
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN201610482046.0
申请日：2016-06-27
申请人： 中兴通讯股份有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种射频测试系统，系统包括：高集成射频测试芯片，用于接收控制信号，根据控制信号选择待测基站的待测通道，或选择测试仪表与待测通道之间的连接关系，或选择测量时钟输出的工作模式；控制单片机，用于接收测试计算机发送的控制指令，根据控制指令生成相应的控制信号并发送给高集成射频测试芯片；测试计算机，用于向控制单片机发送控制指令；获取待测基站的误块率，配置待测基站的小区参数；测试仪表，用于接收待测通道上的射频信号，或向待测通道发送有用信号或干扰信号；待测基站，用于向高集成射频测试芯片发送射频信号，接收并解调有用信号。
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公开(公告)号：CN107547149B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201610481751.9
申请日：2016-06-27
申请人： 中兴通讯股份有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种射频测试芯片，包括：测试逻辑模块、通道选择模块、时钟合成模块和逻辑控制模块；其中，所述测试逻辑模块，用于根据所述逻辑控制模块的4路输入信号，选择信号测试通路；所述通道选择模块，用于根据所述逻辑控制模块的64路输入信号，选择待测设备端口与所述测试逻辑模块上的内部待测输入输出端口的导通，以及所述待测设备端口与所述时钟合成模块上的时钟提取端口的导通；所述时钟合成模块，用于根据外部输入端口的电平，选择恢复测量时钟的端口；所述逻辑控制模块，用于对逻辑控制外部端口的输入信号进行译码，并根据译码结果控制内部逻辑控制端口的输出电平。
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公开(公告)号：CN107547149A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201610481751.9
申请日：2016-06-27
申请人： 中兴通讯股份有限公司
摘要： 本发明实施例提供一种射频测试芯片，包括：测试逻辑模块、通道选择模块、时钟合成模块和逻辑控制模块；其中，所述测试逻辑模块，用于根据所述逻辑控制模块的4路输入信号，选择信号测试通路；所述通道选择模块，用于根据所述逻辑控制模块的64路输入信号，选择待测设备端口与所述测试逻辑模块上的内部待测输入输出端口的导通，以及所述待测设备端口与所述时钟合成模块上的时钟提取端口的导通；所述时钟合成模块，用于根据外部输入端口的电平，选择恢复测量时钟的端口；所述逻辑控制模块，用于对逻辑控制外部端口的输入信号进行译码，并根据译码结果控制内部逻辑控制端口的输出电平。
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公开(公告)号：CN109302205A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201710612676.X
申请日：2017-07-25
申请人： 中兴通讯股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种多功能毫瓦级功率的远端射频单元pico RRU及实现方法，涉及移动通信网络领域，所述方法包括：接收用来转换pico RRU的内置天线和外置天线的控制消息；根据所述控制消息，确定所述pico RRU需要使用的目标天线是内置天线或外置天线；根据确定结果，将所述目标天线作为所述pico RRU唯一使用的天线进行启用。本发明实施例实现一种多功能pico RRU，可以同时支持内置天线和外置天线，在需要替换内置天线或外置天线的场景下，不需要重新采购和施工，从而节省了采购和施工成本。
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