• 专利标题: 一种适用于MIG焊接过程的光谱仪支架
  • 专利标题(英): Spectrograph bracket suitable for MIG welding process
  • 申请号: CN201710811017.9
    申请日: 2017-09-11
  • 公开(公告)号: CN107643124A
    公开(公告)日: 2018-01-30
  • 发明人: 杨春燕蔡子维
  • 申请人: 广东工业大学
  • 申请人地址: 广东省广州市越秀区东风东路729号
  • 专利权人: 广东工业大学
  • 当前专利权人: 广东工业大学
  • 当前专利权人地址: 广东省广州市越秀区东风东路729号
  • 代理机构: 广东广信君达律师事务所
  • 代理商 杜鹏飞; 杨晓松
  • 主分类号: G01J3/28
  • IPC分类号: G01J3/28 G01J3/02
一种适用于MIG焊接过程的光谱仪支架
摘要:
本发明公开了一种适用于MIG焊接过程的光谱仪支架,包括支撑底座、支撑架、竖直伸缩机构、旋转机构、弯折机构、微调式移动平台、光谱仪光纤探头、光谱仪光纤探头支架、光源、聚焦透镜、聚焦透镜支架、聚焦透镜导轨和光谱仪主机,其中,所述支撑底座放置在实验平台上,所述支撑架一端与所述支撑底座相连接,所述支撑架另一端与所述微调式移动平台相连接;本发明的光谱仪支架结构合理,稳定性强、精度高、可自由调节,既优化了传统的光谱仪支架装置的结构,又克服了传统的装置结构稳定性和调节性差的不足,同时还保证了光谱仪支架的调节精度,实现了提高电弧监测效果的目的。
公开/授权文献
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