发明授权
- 专利标题: 半导体封装与其制造方法
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申请号: CN201610891674.4申请日: 2016-10-13
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公开(公告)号: CN107644847B公开(公告)日: 2022-10-28
- 发明人: 黄育智 , 陈志华 , 林志伟 , 蔡豪益 , 陈玉芬 , 郑余任 , 戴志轩
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
- 代理机构: 南京正联知识产权代理有限公司
- 代理商 顾伯兴
- 优先权: 15/214,475 20160720 US
- 主分类号: H01L23/31
- IPC分类号: H01L23/31 ; H01L23/495 ; H01L23/498 ; H01L21/56
摘要:
本发明实施例提供一种半导体封装,包括模封半导体器件、第一重布线路层、第二重布线路层及多个层间导通孔。模封半导体器件包括管芯。第一重布线路层设置于模封半导体器件的第一侧。第二重布线路层设置于模封半导体器件的相对第一侧的第二侧。第二重布线路层包括图案化金属层以及金属环。图案化金属层具有电性连接至管芯的连接线路部。金属环围绕连接线路部并与连接线路部分离。层间导通孔连接至金属环的一部分且位于金属环的下方。层间导通孔延伸穿过模封半导体器件,以电性连接第一重布线路层及第二重布线路层。
公开/授权文献
- CN107644847A 半导体封装 公开/授权日:2018-01-30
IPC分类: