安全测试模式的检测系统及检测方法
摘要:
本发明公开了一种安全测试模式的检测系统及检测方法,检测系统用以防止芯片的测试电路被废止后再次进入安全测试模式,安全测试模式的检测系统包含:时序逻辑控制模块、检测电路模块以及触发模块。触发模块用于根据通断状态,产生高电平或低电平的触发信号。时序逻辑控制模块根据低电平的触发信号,输出高电平的测试模式信号,从而使得芯片能够进入安全测试模式;或,时序逻辑控制模块根据高电平的触发信号,输出低电平的测试模式信号,从而使得检测电路模块输出自毁信号使芯片进行自毁操作。借此,本发明的安全测试模式的检测系统,多重保证提高了对芯片敏感信息的保护效力,符合绝大部分工艺实现需求,可广泛应用于各类安全芯片。
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