发明授权
- 专利标题: 安全测试模式的检测系统及检测方法
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申请号: CN201711058364.5申请日: 2017-11-01
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公开(公告)号: CN107861047B公开(公告)日: 2020-04-03
- 发明人: 胡晓波 , 晁攸重 , 王海峰 , 邓剑伟 , 刘亮 , 甘杰 , 涂因子 , 邵瑾 , 陈奎林 , 赵东艳 , 张海峰 , 唐晓柯 , 张茜歌
- 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网新疆电力公司检修公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网公司 , 国网辽宁省电力有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网新疆电力公司检修公司,国网信息通信产业集团有限公司,国家电网公司,国网辽宁省电力有限公司
- 当前专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网新疆电力公司检修公司,国网信息通信产业集团有限公司,国家电网公司,国网辽宁省电力有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 代理机构: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司
- 代理商 李晓康; 王芳
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28
摘要:
本发明公开了一种安全测试模式的检测系统及检测方法,检测系统用以防止芯片的测试电路被废止后再次进入安全测试模式,安全测试模式的检测系统包含:时序逻辑控制模块、检测电路模块以及触发模块。触发模块用于根据通断状态,产生高电平或低电平的触发信号。时序逻辑控制模块根据低电平的触发信号,输出高电平的测试模式信号,从而使得芯片能够进入安全测试模式;或,时序逻辑控制模块根据高电平的触发信号,输出低电平的测试模式信号,从而使得检测电路模块输出自毁信号使芯片进行自毁操作。借此,本发明的安全测试模式的检测系统,多重保证提高了对芯片敏感信息的保护效力,符合绝大部分工艺实现需求,可广泛应用于各类安全芯片。
公开/授权文献
- CN107861047A 安全测试模式的检测系统及检测方法 公开/授权日:2018-03-30