Invention Publication
- Patent Title: 在衬底和/或鳍中包括器件隔离区的半导体器件
- Patent Title (English): Semiconductor devices including device isolation region in substrate and/or fin
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Application No.: CN201710886543.1Application Date: 2017-09-27
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Publication No.: CN107871740APublication Date: 2018-04-03
- Inventor: 郭大荣 , 朴起丙 , 吕京奂 , 李承宰 , 田炅烨 , 河承锡 , 玄尚镇
- Applicant: 三星电子株式会社
- Applicant Address: 韩国京畿道
- Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee Address: 韩国京畿道
- Agency: 北京市柳沈律师事务所
- Agent 张波
- Priority: 10-2016-0123976 2016.09.27 KR
- Main IPC: H01L27/088
- IPC: H01L27/088 ; H01L21/8234

Abstract:
提供了半导体器件。一种半导体器件包括半导体衬底。半导体器件包括在半导体衬底中的第一源极/漏极区和第二源极/漏极区。此外,半导体器件包括在第一源极/漏极区与第二源极/漏极区之间在半导体衬底中的多层器件隔离区。多层器件隔离区包括凸出部分,该凸出部分远离半导体衬底凸出超过第一源极/漏极区和第二源极/漏极区的各自的最上表面。
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IPC分类: