发明公开
- 专利标题: 一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法
- 专利标题(英): Non-refrigeration photoelectric detector relative spectrum response temperature characteristic calibration method
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申请号: CN201711101511.2申请日: 2017-11-10
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公开(公告)号: CN107884077A公开(公告)日: 2018-04-06
- 发明人: 刘红元 , 应承平 , 王恒飞 , 王洪超 , 李国超 , 吴斌 , 史学舜 , 杨延召
- 申请人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 申请人地址: 山东省青岛市黄岛区香江路98号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
- 当前专利权人地址: 山东省青岛市黄岛区香江路98号
- 代理机构: 北京天奇智新知识产权代理有限公司
- 代理商 陈永宁
- 主分类号: G01J5/52
- IPC分类号: G01J5/52 ; G01J3/28
摘要:
本发明提供一种非制冷光电探测器相对光谱响应温度特性校准方法,在单色仪的输出口用离轴光学系统将单色光汇聚到真空控温系统中,在真空控温系统内由标准探测器接收。探测器的输出信号经过放大后送入数据采集系统,控制器控制单色仪输出波长的改变。测量时先将标准探测器置真空控温系统中进行校准,然后通过精密位移旋转台,移去标准探测器,并将被测探测器旋转到相同的位置上,等真空系统到设定状态后,再将变温箱设置在不同的温度下,等温度稳定后,进行不同温度下的非制冷光电探测器相对光谱响应测量。采用上述方案,既避免当单色光照射到被测红外探测器上,当周围温度升高或降低时非制冷光电探测器表面会结霜和产生水汽的干扰。