公开(公告)号：CN111998947B

公开(公告)日：2022-10-21

申请号：CN202010898563.2

申请日：2020-08-31

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 杨延召 ,  吴斌 ,  朱军锋 ,  刘红元 ,  王洪超 ,  李京松

IPC分类号： G01J3/28 ,  G01J3/12 ,  G01N21/3586

摘要： 本发明公开了一种太赫兹光谱频率和线性度校准模块，由一个太赫兹发射端、一个太赫兹接收端、一个气体样品室、一个太赫兹标准衰减片阵列以及四个太赫兹全反射镜和一个太赫兹半反半透镜组成。太赫兹发射端实现太赫兹信号的产生，太赫兹接收端实现太赫兹信号的探测，太赫兹半反半透镜将太赫兹波分为两束，太赫兹全反射镜用于反射太赫兹波，装入标准气体的样品室可以实现太赫兹光谱频率的校准，太赫兹标准衰减片阵列可以实现太赫兹光谱线性度的校准。本发明通过旋转太赫兹全反射镜实现光谱频率和线性度的切换校准，可以避免标准器具移动等因素对校准结果重复性和准确度的影响，同时也可以提高使用的便捷性，能够满足当前太赫兹光谱校准的需求。

公开(公告)号：CN111996496B

公开(公告)日：2022-09-30

申请号：CN202010884518.1

申请日：2020-08-28

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 吴斌 ,  杨延召 ,  曹乾涛 ,  刘红元 ,  王洪超 ,  朱军峰 ,  李京松

IPC分类号： C23C14/20 ,  C23C14/35 ,  G01R27/28

摘要： 本发明公开了一种基于金属薄膜的高精度太赫兹衰减片制备方法及其衰减特性标定方法，衰减片设计依据的原理为：太赫兹波是无法穿透金属材质的，但当金属的厚度小于趋肤深度时情况会发生变化，一部分太赫兹波会透过金属薄膜，透射率取决于金属薄膜的厚度，厚度越小透过率也就越大，相应地，衰减就越小；反之，厚度越大，衰减也就越大。采用本发明的技术方案：(1)衰减片对工作频率没有选择性，因此适用于整个太赫兹波段；(2)衰减片为薄膜结构，因此不改变太赫兹波的传输特性，不仅适用于对平行太赫兹波束的衰减，而且同样适用于对会聚波束进行衰减；(3)衰减片通过溅射工艺制备而成，可有效保证制备精度。

公开(公告)号：CN109323851A

公开(公告)日：2019-02-12

申请号：CN201811359442.X

申请日：2018-11-15

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 王洪超 ,  吴斌 ,  刘红元 ,  杨延召 ,  李国超 ,  张万成

IPC分类号： G01M11/02

摘要： 本发明提出了一种太赫兹焦平面响应率及响应率不均匀性测试系统，包括：太赫兹辐射源、太赫兹功率计、三维位移台和计算机；所述太赫兹辐射源对被测太赫兹焦平面进行直接照射，所述三维位移台用于对所述太赫兹功率计及被测太赫兹焦平面进行平移以及二维扫描，在太赫兹激光照射截面方向上对太赫兹功率计进行二维平面扫描，对每个像元都进行光照；所述计算机采用激光能量曲面拟合的方式，求得太赫兹功率计每个像元上的太赫兹光功率值，得出响应率及响应率不均匀性的值；采用优化后的高斯曲面拟合模型，实现激光能量形状的拟合。本发明使用太赫兹辐射源来实现响应率和响应率非均匀性的测试，无需面源黑体，节省了测试成本。

公开(公告)号：CN108896277A

公开(公告)日：2018-11-27

申请号：CN201810498190.2

申请日：2018-05-23

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 刘红元 ,  王洪超 ,  王恒飞 ,  应承平 ,  吴斌 ,  李国超 ,  史学舜 ,  杨延召

IPC分类号： G01M11/02

摘要： 本发明公开了一种CCD器件量子效率校准装置及方法。其中，校准装置包括积分球、多组滤光片轮、探测器、被测CCD器件、光纤光谱仪、精密位移台、快门以及控制系统。积分球，被配置为用于提供积分球光源；多组滤光片轮，在光路方向上并列布置，被配置为用于对积分球光源进行滤光处理；每组滤光片轮上安装多个滤光片，其中一个为通光状态，其余均为窄带滤光片；各个窄带滤光片所允许通过的光的波长各不相同；每组滤光片轮分别配置有一组用于控制所述滤光片轮转动的驱动机构。本发明可以提供单色、大面积、高均匀性源，可以校准CCD器件量子效率，为CCD器件使用者和生产者提供高精度测量。

公开(公告)号：CN106442336A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201610768509.X

申请日：2016-08-22

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 李国超 ,  吴斌 ,  王恒飞 ,  应承平 ,  杨延召 ,  姜斌

IPC分类号： G01N21/21 ,  G01M11/02

CPC分类号： G01N21/21 ,  G01M11/00

摘要： 本发明提供一种基于光谱分析的偏振特性测试方法，待测信号光通过λ/4延迟波片、起偏器进入偏振分析模块，根据实际测试需求设置合适的波长间隔；控制λ/4延迟波片同方向转动多次，在与初始位置的角度差逐渐增大至180°时停止；λ/4延迟波片在若干次转动完成后，记录光谱分析模块的光谱测试结果；λ/4延迟波片在完成多次转动后，利用记录的光谱测试数据结合λ/4延迟波片的波长相关延迟量、转动角度，计算得到待测信号光中每个波长点的斯托克斯矢量；旋转起偏器并重复以上步骤，计算得到物质在宽波段范围内多波长点的琼斯矩阵。本发明能够有效克服光学介质色散因素的影响，在一次独立测量中能够实现对信号光中的多波长点多偏振态进行分析测试。

公开(公告)号：CN115656094B

公开(公告)日：2024-07-30

申请号：CN202211287723.5

申请日：2022-10-20

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 吴斌 ,  王洪超 ,  杨延召 ,  王恒飞 ,  陈坤峰 ,  年夫顺 ,  姜万顺 ,  刘红元 ,  尚福洲 ,  李京松 ,  蔡高航

IPC分类号： G01N21/3586 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/01

摘要： 本发明公开了一种基于太赫兹光梳光谱的甜味剂均匀度检测方法及装置，首先，对排序后的卷烟纸进行2次检测，得出甜味剂喷涂浓度所对应的太赫兹光谱强度；然后，通过比较多次测量得到太赫兹光谱强度差值是否小于阈值，从而判断卷烟纸甜味剂喷涂均匀；最后，通过甜味剂浓度喷涂均匀的卷烟纸太赫兹光谱及卷烟纸堆叠层数反演计算得到甜味剂的浓度及均匀度。通过多层卷烟纸排序及堆叠，解决了单张卷烟纸太赫兹光谱检测精度低且难以检测甜味剂均匀度的问题，实现了利用太赫兹波检测卷烟纸甜味剂均匀度及浓度。本发明还提供了一种烟嘴卷烟纸的检测装置，保证了光学检测过程中烟嘴卷烟纸排序的随机性，避免了光学检测样本位置的局限性。

公开(公告)号：CN115541518B

公开(公告)日：2024-04-23

申请号：CN202211084096.5

申请日：2022-09-06

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 吴斌 ,  王洪超 ,  杨延召 ,  陈坤峰 ,  李京松 ,  刘红元 ,  王恒飞 ,  蔡高航 ,  赵耀

IPC分类号： G01N21/35

摘要： 本发明公开了一种基于光梳锁定的长波红外标准波长产生装置及方法，属于长波红外波技术领域。本发明方法包括如下步骤：基于近红外光差频机理产生出长波红外波段的光梳信号；根据所需校准波长点，实现长波红外波段的稳定标准波长信号；当需要产生长波红外波段其他波长点上的标准光源时，通过调谐长波红外可调谐激光器的波长再次锁定至光梳实现；将标准光波长信号导入被校光谱测量仪器，根据测量值与标准值间的误差值实现对被校光谱测量仪器的校准。本发明中长波红外标准光波长不确定度水平高；在长波红外波段的光波长测量不确定度优于10‑10；标准光波长可连续调谐，从而实现对长波红外光谱测量仪器在一系列波长点上的校准。

公开(公告)号：CN115826318A

公开(公告)日：2023-03-21

申请号：CN202211539502.2

申请日：2022-12-02

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 吴斌 ,  李京松 ,  张桂鸣 ,  陈坤峰 ,  杨延召 ,  蔡高航 ,  刘红元 ,  王洪超 ,  尚福洲 ,  张延涛

IPC分类号： G02F1/35

摘要： 本发明公开了一种太赫兹波段光梳变频器件，属于变频技术领域，该变频器件包括光纤接口、光纤聚焦镜、变频芯片、超半球硅透镜和电接口，其中，变频芯片包括天线电极、光电导体和InP基底。外部1560nm飞秒光梳信号依次通过光纤接口、光纤聚焦镜作用在变频芯片上；同时，外部被测太赫兹信号通过超半球硅透镜作用在变频芯片上；天线电极和电接口通过线路连接。本发明响应带宽更宽：通过光电导体内部缺陷的设计增加了响应带宽；灵敏度更高：通过锑掺杂和氧化钨薄膜设计提高了变频器件的灵敏度；可靠性更高：通过氧化钨薄膜设计和天线电极的特殊保护设计，可分别避免光信号和电信号给变频器件带来的损伤，从而提高可靠性和使用寿命。

公开(公告)号：CN113390519A

公开(公告)日：2021-09-14

申请号：CN202110645903.5

申请日：2021-06-09

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 李京松 ,  王洪超 ,  应承平 ,  刘红元 ,  吴斌 ,  杨延召

IPC分类号： G01J5/20 ,  G01J3/12 ,  G01J3/14

摘要： 本发明提供了一种提高红外探测器光谱响应测量精度的装置及方法，其中装置由第一硅碳棒、第二硅碳棒发出的红外光经第一凹面镜和第二凹面镜反射，使光线会聚，入射到单色仪光路中，经第一反射镜反射折叠光路，由第三凹面镜会聚平行入射到反射光栅上，经光栅的单缝衍射和多缝干涉作用，将复色光分成单色光，单色光由第四凹面镜会聚、第二反射镜改变方向后从单色仪出射，出射光由第一离轴抛物镜和第二离轴抛物镜会聚入射到被测探测器，被测探测器光敏面在光照下产生光电效应，形成响应电压信号，应用离散傅里叶变换和频域滤波的方法准确采集响应电压信号后，计算被测探测器的光谱响应。本发明的装置及方法提高了红外探测器的光谱响应测量精度。

公开(公告)号：CN107203054B

公开(公告)日：2020-04-03

申请号：CN201710388165.4

申请日：2017-05-27

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 姜斌 ,  吴斌 ,  杨延召 ,  王恒飞 ,  应承平

IPC分类号： G02F1/01

摘要： 本发明提供一种太赫兹可变衰减器，由数片基于砷化镓材料的薄片排列而成，薄片的数量可以根据需要增加或者减少。太赫兹光源发出的太赫兹光经过砷化镓材料的薄片可以衰减并到太赫兹探测器中，太赫兹探测器可以计算的太赫兹功率。每片砷化镓材料薄片作为衰减片都很薄并且厚度相同，这样就可以保证每片薄片作为衰减片对太赫兹波的衰减量是相同的，并且多片砷化镓材料的薄片作为衰减片不会产生法布里‑玻罗效应，影响最后的太赫兹衰减量。带有凹槽的底座可以使太赫兹波按相同的方向经过砷化镓材料的薄片作为衰减片，从而保证最后的衰减量是每片衰减量的和。采用上述方案，方法设计的太赫兹可变衰减器，使用方便，对放置角度要求低，精度高。