Invention Publication
CN107919272A 非晶硅薄膜成膜方法
无效 - 撤回
- Patent Title: 非晶硅薄膜成膜方法
- Patent Title (English): Amorphous silicon film formation method
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Application No.: CN201711163435.8Application Date: 2017-11-21
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Publication No.: CN107919272APublication Date: 2018-04-17
- Inventor: 刘善善 , 朱黎敏 , 朱兴旺
- Applicant: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Agency: 上海浦一知识产权代理有限公司
- Agent 戴广志
- Main IPC: H01L21/02
- IPC: H01L21/02

Abstract:
本发明公开了一种非晶硅薄膜成膜方法,包含:非晶硅薄膜成膜方法,包含的工艺步骤:第一步,将覆盖有二氧化硅层的硅基板进行预热处理;第二步,采用等离子体处理硅基板表面;第三步,对成膜腔室内进行通气预热;第四步,在成膜腔室内对硅基板进行第一次非晶硅成膜;第五步,腔室内通入氩气;第六步,在成膜腔室内进行第二次非晶硅成膜;第七步,腔室内通入氩气;第八步,进行第三次非晶硅成膜;第九步,腔室内通入氩气;第十步,将硅基板移出腔室外冷却。本发明所述的非晶硅薄膜成膜方法,能够有效的防止成膜时鼓包的存在,同时,该方法的可操作性较强,可以获得平坦化度较高的非晶硅。
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