发明公开
- 专利标题: 离子分析装置
- 专利标题(英): Ion analysis device
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申请号: CN201580083150.6申请日: 2015-10-09
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公开(公告)号: CN108027347A公开(公告)日: 2018-05-11
- 发明人: 西村和茂 , 佐竹宏之 , 杉山益之 , 长谷川英树 , 坂井友幸
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 葛凡
- 国际申请: PCT/JP2015/078771 2015.10.09
- 国际公布: WO2017/061034 JA 2017.04.13
- 进入国家日期: 2018-03-16
- 主分类号: G01N27/62
- IPC分类号: G01N27/62 ; H01J49/10 ; H01J49/26
摘要:
为了降低因添加剂导致的装置污染,并高速地切换添加剂的喷雾和停止,本发明的离子分析装置具有:离子源,其将测定对象物质进行离子化;喷雾部,其将含有与测定对象物质反应的添加剂的液体进行微粒化,并朝向测定对象物质进行喷雾;分离分析部,其对由测定对象物质与添加剂反应而生成的离子进行分离分析;检测器,其对在分离分析部中分离分析出的离子进行检测;以及,控制部,其在不需要添加剂的时间内使供给至喷雾部的添加剂的流量降低。
公开/授权文献
- CN108027347B 离子分析装置 公开/授权日:2021-08-13