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公开(公告)号：CN106471600B
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201580031359.8
申请日：2015-06-15
申请人： 株式会社日立高新技术
摘要： 本发明涉及鲁棒性高且能够进行高灵敏度且低噪声的分析的质谱仪。课题为防止离子的导入效率降低及抑制液滴等噪声成分的导入。特征在于，具有：生成离子的离子源；用真空排气单元排气且分析离子的质量的真空室；以及将离子导入真空室的离子导入电极(12)，离子导入电极(12)具有离子源侧的前级细孔(35)、真空室侧的后级细孔(36)、以及前级细孔(35)与后级细孔(36)之间的中间压力室(33)，中间压力室(33)的离子入口的截面积比前级细孔(35)的截面积大，前级细孔(35)的中心轴和后级细孔(36)的中心轴位于偏心的位置，中间压力室(33)的离子出口的截面积比入口的截面积小。
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公开(公告)号：CN105122051B
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201480020182.7
申请日：2014-04-10
申请人： 株式会社日立高新技术
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： G01N30/7233 , G01N27/624 , H01J49/0027 , H01J49/004
摘要： 分析系统具备：存储部，其存储使质谱分析结果信息和与离子迁移率分离有关的分析条件关联起来的第一信息；控制部，其将与某测定对象离子的质谱分析结果信息对应的上述第一信息的上述质谱分析结果信息所关联的上述分析条件决定为上述测定对象离子的第一分析条件。
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公开(公告)号：CN108027347B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN201580083150.6
申请日：2015-10-09
申请人： 株式会社日立高新技术
IPC分类号： G01N27/626 , H01J49/10 , H01J49/26
摘要： 为了降低因添加剂导致的装置污染，并高速地切换添加剂的喷雾和停止，本发明的离子分析装置具有：离子源，其将测定对象物质进行离子化；喷雾部，其将含有与测定对象物质反应的添加剂的液体进行微粒化，并朝向测定对象物质进行喷雾；分离分析部，其对由测定对象物质与添加剂反应而生成的离子进行分离分析；检测器，其对在分离分析部中分离分析出的离子进行检测；以及，控制部，其在不需要添加剂的时间内使供给至喷雾部的添加剂的流量降低。
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公开(公告)号：CN108027347A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201580083150.6
申请日：2015-10-09
申请人： 株式会社日立高新技术
摘要： 为了降低因添加剂导致的装置污染，并高速地切换添加剂的喷雾和停止，本发明的离子分析装置具有：离子源，其将测定对象物质进行离子化；喷雾部，其将含有与测定对象物质反应的添加剂的液体进行微粒化，并朝向测定对象物质进行喷雾；分离分析部，其对由测定对象物质与添加剂反应而生成的离子进行分离分析；检测器，其对在分离分析部中分离分析出的离子进行检测；以及，控制部，其在不需要添加剂的时间内使供给至喷雾部的添加剂的流量降低。
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公开(公告)号：CN105474352B
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：CN201480044977.1
申请日：2014-07-09
申请人： 株式会社日立高新技术
CPC分类号： H01J49/107 , H01J49/0468 , H01J49/165 , H01J49/168
摘要： 本发明的目的在于提供一种高灵敏度并且能够在短时间内简单地切换的离子源，该离子源具有用于将试样喷雾的离子化探测器(1)、用于对试样进行加热气化的加热室(11)、以及用于使离子化探测器的出口端(喷雾的一侧的端部)(8)与加热室的入口端(离子化探测器侧的一端)(15)的距离变化的驱动部(31、33)。利用驱动部，以使用了离子化探测器的离子化区域(21)或者使用了加热室的离子化区域(22)位于质谱仪(24)的离子导入口(25)的附近的方式对离子化探测器、加热室的位置进行控制，从而单独地执行多个离子化法。
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公开(公告)号：CN105474352A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201480044977.1
申请日：2014-07-09
申请人： 株式会社日立高新技术
CPC分类号： H01J49/107 , H01J49/0468 , H01J49/165 , H01J49/168
摘要： 本发明的目的在于提供一种高灵敏度并且能够在短时间内简单地切换的离子源，该离子源具有用于将试样喷雾的离子化探测器(1)、用于对试样进行加热气化的加热室(11)、以及用于使离子化探测器的出口端(喷雾的一侧的端部)(8)与加热室的入口端(离子化探测器侧的一端)(15)的距离变化的驱动部(31、33)。利用驱动部，以使用了离子化探测器的离子化区域(21)或者使用了加热室的离子化区域(22)位于质谱仪(24)的离子导入口(25)的附近的方式对离子化探测器、加热室的位置进行控制，从而单独地执行多个离子化法。
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公开(公告)号：CN108603860B
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN201780010707.2
申请日：2017-02-28
申请人： 株式会社日立高新技术
IPC分类号： G01N27/62
摘要： 为了使具有离子迁移率分离部的分析装置具有高的耐久性和鲁棒性而具有：离子源、具备被施加高频电压和直流电压的一对对置的电极的离子迁移率分离部以及设置在离子源和离子迁移率分离部之间且被施加直流电压的屏蔽电极，屏蔽电极在内部具有连接导入来自离子源的离子的入口和排出离子的出口的离子流路，离子流路弯曲使得从入口见不到出口。
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公开(公告)号：CN106471600A
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201580031359.8
申请日：2015-06-15
申请人： 株式会社日立高新技术
CPC分类号： H01J49/24 , G01N27/62 , H01J49/0404 , H01J49/0422 , H01J49/067 , H01J49/165 , H01J49/34
摘要： 本发明涉及鲁棒性高且能够进行高灵敏度且低噪声的分析的质谱仪。课题为防止离子的导入效率降低及抑制液滴等噪声成分的导入。特征在于，具有：生成离子的离子源；用真空排气单元排气且分析离子的质量的真空室；以及将离子导入真空室的离子导入电极(12)，离子导入电极后级细孔(36)、以及前级细孔(35)与后级细孔(36)之间的中间压力室(33)，中间压力室(33)的离子入口的截面积比前级细孔(35)的截面积大，前级细孔(35)的中心轴和后级细孔(36)的中心轴位于偏心的位置，中间压力室(33)的离子出口的截面积比入口的截面积小。(12)具有离子源侧的前级细孔(35)、真空室侧的
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公开(公告)号：CN105122051A
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201480020182.7
申请日：2014-04-10
申请人： 株式会社日立高新技术
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： G01N30/7233 , G01N27/624 , H01J49/0027 , H01J49/004
摘要： 分析系统具备：存储部，其存储使质谱分析结果信息和与离子迁移率分离有关的分析条件关联起来的第一信息；控制部，其将与某测定对象离子的质谱分析结果信息对应的上述第一信息的上述质谱分析结果信息所关联的上述分析条件决定为上述测定对象离子的第一分析条件。
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公开(公告)号：CN118557904A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410658794.4
申请日：2019-05-24
申请人： 株式会社日立高新技术
摘要： 本发明提供提高了扩充性的粒子束治疗系统。粒子束治疗系统(1)具备：具有第一楼层(51)和第二楼层(53S、53V)的建筑物；设于第一楼层并产生粒子束的粒子束产生装置(2)；用于从粒子束产生装置向第一治疗室内的第一照射装置输送粒子束的第一输送系统(3(1))；以及从第一输送系统分支并用于经由第二楼层向第二治疗室的第二照射装置输送粒子束的第二输送系统(3(2))，第二输送系统具有使粒子束向与粒子束产生装置的设置面不同的第二楼层的方向偏转的第一偏转电磁铁(32(2))，建筑物(5)具有屏蔽第一楼层与第二楼层的屏蔽壁(55)，在相对于粒子束的前进方向比第一偏转电磁铁靠后方的位置贯通屏蔽壁地设置第二输送系统。
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