Invention Grant
- Patent Title: 测距装置和测距装置的控制方法
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Application No.: CN201780003409.0Application Date: 2017-07-10
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Publication No.: CN108139484BPublication Date: 2023-03-31
- Inventor: 大木光晴
- Applicant: 索尼半导体解决方案公司
- Applicant Address: 日本神奈川县
- Assignee: 索尼半导体解决方案公司
- Current Assignee: 索尼半导体解决方案公司
- Current Assignee Address: 日本神奈川县
- Agency: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
- Agent 梁兴龙; 曹正建
- Priority: 2016-168252 20160830 JP
- International Application: PCT/JP2017/025072 2017.07.10
- International Announcement: WO2018/042887 JA 2018.03.08
- Date entered country: 2018-04-03
- Main IPC: G01S17/894
- IPC: G01S17/894 ; G01S17/36 ; G01C3/06 ; G01S17/931 ; H04N23/20 ; H04N23/67 ; H04N25/771

Abstract:
本发明改善了接收间歇光的测距装置中的深度图的图像质量。在像素阵列部中,用于接收预定间歇光的多个像素以二维格子状排列。连续光图像数据生成部(310)基于所述多个像素的受光数据(Q1~Q4)来生成指示多个像素的预定连续光的亮度的多条图像数据在其中以二维格子状排列的连续光图像数据(IR)。深度图生成部(320)从所述受光数据(Q1~Q4)和所述连续光图像数据(IR)来生成包括与所述多个像素相对应的距离信息配置在其中的深度图(D)。
Public/Granted literature
- CN108139484A 测距装置和测距装置的控制方法 Public/Granted day:2018-06-08
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