发明授权
- 专利标题: 前导零的检测结构和方法
-
申请号: CN201611208564.X申请日: 2016-12-23
-
公开(公告)号: CN108241483B公开(公告)日: 2020-09-22
- 发明人: 刘臻 , 杨梁
- 申请人: 龙芯中科技术有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼
- 专利权人: 龙芯中科技术有限公司
- 当前专利权人: 龙芯中科技术有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼
- 代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- 代理商 杨贝贝; 刘芳
- 主分类号: G06F7/57
- IPC分类号: G06F7/57
摘要:
本发明提供一种前导零的检测结构和方法,该结构包括:通过提供由扩展扇出单元、电流处理单元和修正低位数据单元构成的前导零的检测结构,电流处理单元连接在扩展扇出单元与修正低位数据单元之间;扩展扇出单元,用于获取二进制数据流,生成扩展后的二进制数据流;电流处理单元,用于根据扩展后的二进制数据流,生成与二进制数据流的各位对应的数据值;修正低位数据单元,用于对与二进制数据流的各位对应的数据值进行修正,生成二进制数据流的首个1的位置信息。可以对二进制数据流进行前导零的检测,确定出二进制数据流的首个1的位置信息,不会浪费前导零检测电路的输入端口,降低了数据流输入到输出结果的时间,提高了计算效率。
公开/授权文献
- CN108241483A 前导零的检测结构和方法 公开/授权日:2018-07-03