- 专利标题: 基于小波熵和混沌特性的辐射源指纹特征提取方法
- 专利标题(英): Radiation source fingerprint feature extraction method based on wavelet entropy and chaotic features
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申请号: CN201711494014.3申请日: 2017-12-31
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公开(公告)号: CN108268837A公开(公告)日: 2018-07-10
- 发明人: 孙海信 , 郭辉明 , 李劲松 , 严百平 , 齐洁 , 耿颢轩
- 申请人: 厦门大学 , 深圳市朗石科学仪器有限公司
- 申请人地址: 福建省厦门市思明南路422号
- 专利权人: 厦门大学,深圳市朗石科学仪器有限公司
- 当前专利权人: 厦门大学,深圳市朗石科学仪器有限公司
- 当前专利权人地址: 福建省厦门市思明南路422号
- 代理机构: 厦门南强之路专利事务所
- 代理商 马应森
- 主分类号: G06K9/00
- IPC分类号: G06K9/00 ; G06F17/14
摘要:
基于小波熵和混沌特性的辐射源指纹特征提取方法,涉及辐射源个体识别领域。包括以下步骤:1)对辐射源信号进行小波熵特征提取,得到特征参数;2)对辐射源信号进行混沌特征分析,提取混沌特征参数,将小波熵特征向量和混沌特征向量结合,得到组合特征向量,输入特征分类器,实现对辐射源个体的识别。克服了目前常用的时频分析方法没有考虑辐射源信号非线性本质的缺陷,既发挥了小波包变换的强时频分辨力特性,提取信号的多尺度局部特征,更通过混沌分析这一非线性分析方法,考量信号整体的非线性情况,从而更精准地反映辐射源信号的特征,使提取出的特征参数具有更强的区分性。
公开/授权文献
- CN108268837B 基于小波熵和混沌特性的辐射源指纹特征提取方法 公开/授权日:2020-07-03