- 专利标题: 微镜监测方法与装置,以及照明装置和光刻机
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申请号: CN201710115102.1申请日: 2017-02-28
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公开(公告)号: CN108507498B公开(公告)日: 2020-01-24
- 发明人: 张一志 , 李玉龙 , 许琦欣
- 申请人: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张东路1525号
- 专利权人: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- 当前专利权人: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张东路1525号
- 代理机构: 上海思微知识产权代理事务所
- 代理商 屈蘅; 李时云
- 主分类号: G01B11/26
- IPC分类号: G01B11/26 ; G01B11/24 ; G03F7/20
摘要:
本发明提供了一种微镜监测方法与装置,以及照明装置和光刻机,该方法用以实时监测微镜的翻转角度与面型,包括:先提供至少两束平行等距的激光束;再获得两束激光束经所述微镜反射以及傅里叶透镜透射后形成于感光元件上的光斑;然后:测量得到光斑的位置,进而依据光斑位置确定所述微镜的翻转角度;测量得到所述两束激光束所产生的光斑的间距,进而依据光斑间距的变化确定所述微镜的面型变化。
公开/授权文献
- CN108507498A 微镜监测方法与装置,以及照明装置和光刻机 公开/授权日:2018-09-07