Invention Grant
- Patent Title: 一种光器件光谱响应测量装置及方法
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Application No.: CN201810298777.9Application Date: 2018-04-04
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Publication No.: CN108631880BPublication Date: 2020-03-20
- Inventor: 戴键 , 陈增辉 , 叶珑 , 张天 , 尹飞飞 , 徐坤
- Applicant: 北京邮电大学
- Applicant Address: 北京市海淀区西土城路10号
- Assignee: 北京邮电大学
- Current Assignee: 北京邮电大学
- Current Assignee Address: 北京市海淀区西土城路10号
- Agency: 北京柏杉松知识产权代理事务所
- Agent 项京; 马敬
- Main IPC: H04B10/548
- IPC: H04B10/548 ; H04B10/556 ; H04B10/079 ; H04L27/20
Abstract:
本发明实施例提供了一种光器件光谱响应测量装置及方法,其中,装置包括:电光相位调制器,用于接收电信号产生模块产生的原始电信号,将原始电信号相位调制至光信号产生模块产生的原始光信号上,得到原始双边带相位调制信号并输出,原始电信号为微波恒定频率信号与微波扫频信号的合路信号;光电探测器,用于接收待测光器件根据接收的原始双边带相位调制信号,输出的变换后双边带相位调制信号,对变换后双边带相位调制信号进行光电变换,得到转换后电信号并输出;数据处理模块,用于接收检测模块根据接收转换后电信号,利用从微波扫频信号中解析出的倍频信号,提取转换后电信号的幅频信号和相频信号,并分别转换为光谱响应的幅度响应及相位响应。
Public/Granted literature
- CN108631880A 一种光器件光谱响应测量装置及方法 Public/Granted day:2018-10-09
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