发明授权
- 专利标题: 半导体装置及其制造方法
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申请号: CN201810263524.8申请日: 2018-03-28
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公开(公告)号: CN108695177B公开(公告)日: 2021-11-02
- 发明人: 川岛崇功 , 大野裕孝
- 申请人: 株式会社电装
- 申请人地址: 日本爱知县
- 专利权人: 株式会社电装
- 当前专利权人: 株式会社电装
- 当前专利权人地址: 日本爱知县
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 高培培; 车文
- 优先权: 2017-065283 20170329 JP
- 主分类号: H01L21/60
- IPC分类号: H01L21/60 ; H01L23/495
摘要:
本发明提供一种半导体装置及其制造方法,良好地进行引线框与半导体芯片的定位。是通过使用夹具将半导体芯片连接于引线框来制造半导体装置的方法。所述半导体芯片在一个面上具有主电极。所述引线框具有接合用凸部和在所述接合用凸部的周围配置的由凸形状或凹形状构成的定位部。所述制造方法包括:以在所述接合用凸部与所述夹具之间空出间隔的状态使所述夹具卡合于所述定位部的工序;使所述夹具卡合于所述半导体芯片的工序;及在使所述定位部和所述半导体芯片卡合于所述夹具的状态下,将所述接合用凸部经由焊料连接于所述半导体芯片的所述主电极的工序。
公开/授权文献
- CN108695177A 半导体装置及其制造方法 公开/授权日:2018-10-23
IPC分类: