- 专利标题: 一种利用多通道纳米孔道-膜检测系统的检测方法
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申请号: CN201810283711.2申请日: 2018-04-02
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公开(公告)号: CN108709921B公开(公告)日: 2021-08-03
- 发明人: 龙亿涛 , 崔凌飞 , 顾震 , 应佚伦
- 申请人: 华东理工大学
- 申请人地址: 上海市徐汇区梅陇路130号
- 专利权人: 华东理工大学
- 当前专利权人: 华东理工大学
- 当前专利权人地址: 上海市徐汇区梅陇路130号
- 代理机构: 上海翼胜专利商标事务所
- 代理商 翟羽; 曾人泉
- 主分类号: G01N27/327
- IPC分类号: G01N27/327
摘要:
本发明多通道纳米孔道‑膜检测系统,采用纳米尺寸的孔道,含有样品检测模块和主控模块:样品检测模块含有样品检测池、成膜通道单元、孔道注入通道单元、进样通道单元、换液通道单元和第一、第二电极,其中:样品检测池含有第一、第二池体单元、薄膜和绝缘上盖;成膜通道单元含有提拉通道和磷脂注入通道;孔道注入通道单元含有孔道注入通道;进样通道单元含有进样通道;换液通道单元含有第一和第二换药通道;主控模块含有电压控制模块、数据采集模块、信息处理模块、流体操作模块、用户操作模块、电源模块和数据显示模块;能实现不同的操作组合,对不同的检测对象实现自动化、高效、快速的超灵敏检测分析。
公开/授权文献
- CN108709921A 多通道纳米孔道-膜检测系统及检测方法 公开/授权日:2018-10-26