发明授权
- 专利标题: 一种高密度随机存储器制造方法
-
申请号: CN201710245064.1申请日: 2017-04-14
-
公开(公告)号: CN108735742B公开(公告)日: 2020-07-07
- 发明人: 肖荣福 , 郭一民 , 陈峻
- 申请人: 上海磁宇信息科技有限公司
- 申请人地址: 上海市嘉定区城北路235号二号楼二层
- 专利权人: 上海磁宇信息科技有限公司
- 当前专利权人: 上海磁宇信息科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市嘉定区城北路235号二号楼二层
- 代理机构: 上海容慧专利代理事务所
- 代理商 于晓菁
- 主分类号: H01L27/108
- IPC分类号: H01L27/108 ; H01L27/22
摘要:
一种高密度随机存储器制造方法,包括:在衬底上形成第一和第二栅极沟槽;在衬底、第一栅极沟槽和第二栅极沟槽表面形成二氧化硅绝缘层;在第一和第二栅极沟槽内分别填充导电物以形成第一栅极和第二栅极;在衬底、第一和第二栅极上生长绝缘层由此形成氧化物绝缘层;在绝缘层上生长第一掺杂类型的半导体薄膜;在半导体薄膜上生长金属导电膜;对金属导电膜形成依次排列并相互隔开的第一漏极、源极和第二漏极;对未被覆盖的半导体薄膜进行第二掺杂类型的重掺杂,形成第二区域和第四区域;生长氧化绝缘层并对氧化绝缘层进行平坦化处理,以便在第一漏极和源极之间形成第一氧化物隔离区域,并且在源极和第二漏极之间形成第二氧化物隔离区域。
公开/授权文献
- CN108735742A 一种高密度随机存储器制造方法 公开/授权日:2018-11-02