发明授权
- 专利标题: 验证平台、方法及电子设备
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申请号: CN201810521095.X申请日: 2018-05-28
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公开(公告)号: CN108763743B公开(公告)日: 2022-08-05
- 发明人: 田晓旭 , 刘勤让 , 徐庆阳 , 沈剑良 , 刘冬培 , 吕平 , 宋克 , 钟丹 , 张丽 , 黑建平 , 汪欣 , 杨晓龙 , 李晓洁 , 丁旭 , 汤先拓
- 申请人: 天津芯海创科技有限公司 , 天津市滨海新区信息技术创新中心
- 申请人地址: 天津市滨海新区滨海-中关村科技园荣晟广场4号楼702-7;
- 专利权人: 天津芯海创科技有限公司,天津市滨海新区信息技术创新中心
- 当前专利权人: 天津芯海创科技有限公司,天津市滨海新区信息技术创新中心
- 当前专利权人地址: 天津市滨海新区滨海-中关村科技园荣晟广场4号楼702-7;
- 代理机构: 北京超凡志成知识产权代理事务所
- 代理商 逯恒
- 主分类号: G06F30/398
- IPC分类号: G06F30/398
摘要:
本发明提供了一种验证平台、方法及电子设备,涉及芯片验证技术领域,包括:采样模块、参考模型、对比模块和多个外部接口驱动模块;每个外部接口驱动模块向待测设计DUT中与外部接口驱动模块连接的外部接口发送测试激励,使外部接口将测试激励发送给与外部接口对应的内部接口,进而使DUT根据测试激励生成第一输出结果;采样模块将从DUT的内部接口接收的测试激励发送给参考模型;以及将从内部接口接收的第一输出结果发送给对比模块;参考模型将根据测试激励生成的第二输出结果发送给对比模块;对比模块判断第一输出结果与第二输出结果是否一致。本发明的一种验证平台,无需对应每个外部接口配置监视器和记分板,大大节省工作量,提高验证效率。
公开/授权文献
- CN108763743A 验证平台、方法及电子设备 公开/授权日:2018-11-06