- 专利标题: 采用相对光谱旋转体体积表征AlGaInP基LED结温的方法
- 专利标题(英): Method for characterizing junction temperature of AlGaInP-based LED by using relative spectral distribution rotation volume
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申请号: CN201810870627.0申请日: 2018-08-02
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公开(公告)号: CN108871605A公开(公告)日: 2018-11-23
- 发明人: 饶丰 , 褚静 , 徐安成 , 朱锡芳
- 申请人: 常州工学院
- 申请人地址: 江苏省常州市新北区辽河路666号
- 专利权人: 常州工学院
- 当前专利权人: 常州工学院
- 当前专利权人地址: 江苏省常州市新北区辽河路666号
- 代理机构: 南京知识律师事务所
- 代理商 高桂珍
- 主分类号: G01K11/00
- IPC分类号: G01K11/00 ; G01R31/26
摘要:
本发明公开了一种以波长380nm为起始点的相对光谱分布绕Y轴旋转之体积表征AlGaInP基LED结温的方法,属于LED光电检测领域。本发明在小电流下驱动AlGaInP基LED发光,然后用光谱分析仪测量不同温度条件下AlGaInP基LED的相对光谱分布,并计算出以(峰值波长‑380nm)为起始点的相对光谱分布绕Y轴旋转之体积,得到该体积随结温的变化系数。最后根据该系数,结合已知结温时的相对光谱旋转体积,测算出待测条件下AlGaInP基LED结温。由于相对光谱旋转体之体积对带宽和测量精度要求均较低,因此,本方法使用成本较低的普通光谱仪即可完成测量,且多次测量稳定性和准确性好。测量方法简单易操作,测量过程中不接触LED本身,使用范围广。
公开/授权文献
- CN108871605B 采用相对光谱旋转体体积表征AlGaInP基LED结温的方法 公开/授权日:2020-09-01