发明授权
- 专利标题: PECVD微晶硅锗(SIGE)
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申请号: CN201810623048.6申请日: 2014-08-15
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公开(公告)号: CN108893726B公开(公告)日: 2020-09-22
- 发明人: 池孝仁 , 法扎德·迪安·塔吉克 , 迈克尔·安东尼·罗莎
- 申请人: 应用材料公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 应用材料公司
- 当前专利权人: 应用材料公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
- 代理商 徐金国; 赵静
- 优先权: 61/874,831 2013.09.06 US
- 主分类号: C23C16/42
- IPC分类号: C23C16/42 ; C23C16/505 ; H01L21/02
摘要:
本发明的实施方式大体涉及用于形成SiGe层的方法。在一个实施方式中,首先使用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)形成种晶SiGe层,并且也使用PECVD在PECVD种晶层上直接形成主体SiGe层。用于种晶SiGe层和主体SiGe层二者的处理温度低于450摄氏度。
公开/授权文献
- CN108893726A PECVD微晶硅锗(SIGE) 公开/授权日:2018-11-27
IPC分类: