发明公开
- 专利标题: 一种晶体振荡器测试装置
- 专利标题(英): Crystal oscillator test device
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申请号: CN201810833050.6申请日: 2018-07-26
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公开(公告)号: CN108957277A公开(公告)日: 2018-12-07
- 发明人: 乔志峰 , 彭慧丽 , 陈金和 , 于德江 , 郄莉
- 申请人: 北京无线电计量测试研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区142信箱408分箱
- 专利权人: 北京无线电计量测试研究所
- 当前专利权人: 北京无线电计量测试研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区142信箱408分箱
- 代理机构: 北京正理专利代理有限公司
- 代理商 付生辉
- 主分类号: G01R31/26
- IPC分类号: G01R31/26
摘要:
本发明公开一种晶体振荡器测试装置,包括:底座;对称设置于所述底座上的支架;穿设于所述支架之间并伸出所述支架两侧的旋转轴;设置于所述旋转轴上的安装板;以及固定于所述支架内侧的圆盘;其中,所述安装板用于承接所述晶体振荡器,所述圆盘位于所述支架与所述安装板之间,所述圆盘与所述旋转轴同心设置,所述圆盘上设置有以圆心为中心轴向对称均匀分布的多个调节孔。本发明提高了测试的精确度以及测试效率。
公开/授权文献
- CN108957277B 一种晶体振荡器测试装置 公开/授权日:2021-08-13