一种晶体振荡器
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116667789A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310507428.4

    申请日:2023-05-06

    Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器,解决了现有技术中晶体振荡器体积缩小导致噪声大的问题。一种晶体振荡器,包含底座、基板或电路板、上盖、晶体或晶片、第一元件、第二元件和引脚。底座为上不封顶的盒体。底座的侧壁有台阶结构,内侧壁的高度小于外侧壁。基板固定设置在台阶结构上将盒体内部分为上空腔和下空腔。所述上盖密封设置在侧壁的上沿封闭盒体。所述第一元件固定设置在上空腔。所述第二元件固定设置在下空腔。若用晶体,则放置在上空腔或下空腔中,若用晶片则放置在上空腔。本申请的晶体振荡器兼具小体积、低相噪和高稳定等特点,可以实现小型化高性能指标要求和表贴封装要求,并且整体结构连接可靠,具有较高的机械和电连接可靠性。

    一种动态相位噪声测试方法和系统

    公开(公告)号:CN116008686A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202211608703.3

    申请日:2022-12-14

    Abstract: 本申请公开了一种动态相位噪声测试方法,包括以下步骤:多个晶体振荡器同时通过专用夹具固定在振动试验台上,在设定的振动条件下,在每一个采样周期内,通过电脑控制多路选择开关轮流对各个晶体振荡器输出信号进行采样,直到采样周期的数量达到设定的计数值;根据获得的采样数据,计算任一晶体振荡器在所述设定的振动条件下的相位噪声值。本申请还包含使用所述方法进行动态相位噪声测试的系统。本申请解决单独测试晶振效率低、误差大的问题。

    晶体振荡器调节测试装置以及晶体振荡器调节测试方法

    公开(公告)号:CN118604480A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410685105.9

    申请日:2024-05-30

    Abstract: 本发明提供一种晶体振荡器调节测试装置,包括测试模块和调节模块,测试模块包括:第1端子以及第2端子;第1电阻和负载电容网络,串联地连接在第1端子与第2端子之间;电流测量装置和第1开关的串联电路,与第1电阻并联地连接;以及电压测量装置和第2开关的串联电路,与第1电阻和负载电容网络的串联电路并联地连接,调节模块包括:第3端子、第4端子、第5端子以及第6端子;以及第1振荡电容网络、第2振荡电容网络以及电阻网络,依次串联地连接在第3端子与第6端子之间,第4端子与第1振荡电容网络和第2振荡电容网络之间的节点连接,第5端子与第2振荡电容网络和电阻网络之间的节点连接。本发明还提供一种晶体振荡器调节测试方法。

    一种晶振恒温装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116131800A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202211741277.0

    申请日:2022-12-30

    Abstract: 本发明公开了一种晶振恒温装置,包括晶体谐振器,晶体谐振器外表面覆盖有减振橡胶A,晶体谐振器至于支撑结构内,支撑结构的外表面覆盖有减振橡胶B,支撑结构置于恒温槽内,并对恒温槽顶部进行封闭。恒温槽为高热导率的紫铜铜材料,且采用了对称加热方式,因此热分布均匀。支撑结构和填充的减振材料热阻较高,能够有效隔绝恒温槽结构控温过程中的热过冲,极大改善晶振的频率温度稳定度指标。同时由于支撑结构的限位作用,保证晶体谐振器在大量级冲击条件下不会产生较大位移,避免晶体谐振器引线断裂;此外减振材料能够吸收部分能量,有效保护晶体谐振器。本装置在小体积下,不但具有良好的频率温度稳定度指标,还具备一定的抗冲击能力。

    一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具

    公开(公告)号:CN112649680B

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202011558279.7

    申请日:2020-12-25

    Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具,该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板,壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽,凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔,振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔,插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针,振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板,将电源线、测试电缆线与电路板相连,而非直接与被测晶体振荡器连接,连接更为稳固可靠,减少了线缆软连接引入的噪声干扰,提升了测试可靠性。

    一种精密控温电路的恒温点温度补偿装置、方法及设备

    公开(公告)号:CN116719368A

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202310658572.8

    申请日:2023-06-05

    Abstract: 本说明书公开了一种精密控温电路的恒温点补偿方法,包括反馈网络、运算放大器和温控电桥:控温电桥包括控温支路和补偿支路,控温支路为比例积分控温电路,补偿支路替代现有比例积分控温电路中的一个固定电阻,并设置在精密控温电路的恒温区域,补偿支路为负温度系数热敏电阻或负温度系数热敏电阻网络,由一个热敏电阻和若干固定电阻通过串并连构成,通过配置补偿支路参数,合理配置补偿热敏电阻的位置,保证在放大器V‑基本不变的情况下,ΔU=V‑‑V+由大变小,从而使得加热功率WJ随外界环境温度上升由大变小,与散热功率WS维持平衡。本发明在不改变恒温结构的前提下,可以大幅提高控温精度,使得恒温晶体振荡器获得优异的频率温度稳定度。

    抗振结构及晶体振荡器
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114531131A

    公开(公告)日:2022-05-24

    申请号:CN202111641344.7

    申请日:2021-12-29

    Abstract: 本发明涉及航空技术领域,公开了一种抗振结构及晶体振荡器,其中,抗振结构包括弹性的线状主体,所述线状主体包括第一连接部、第二连接部和弹性部,所述弹性部为曲线型,所述弹性部位于所述第一连接部和第二连接部之间。本发明的抗振结构,曲线型的弹性部具有减振的作用,而本发明的第一连接部和第二连接部具有可焊性,可与晶体振荡器的印制板和壳体底部相连,不仅可以起到减振作用,还可以达到支撑作用。

    一种晶体振荡器测试装置

    公开(公告)号:CN108957277B

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN201810833050.6

    申请日:2018-07-26

    Abstract: 本发明公开一种晶体振荡器测试装置,包括:底座;对称设置于所述底座上的支架;穿设于所述支架之间并伸出所述支架两侧的旋转轴;设置于所述旋转轴上的安装板;以及固定于所述支架内侧的圆盘;其中,所述安装板用于承接所述晶体振荡器,所述圆盘位于所述支架与所述安装板之间,所述圆盘与所述旋转轴同心设置,所述圆盘上设置有以圆心为中心轴向对称均匀分布的多个调节孔。本发明提高了测试的精确度以及测试效率。

    一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具

    公开(公告)号:CN112649680A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN202011558279.7

    申请日:2020-12-25

    Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具,该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板,壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽,凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔,振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔,插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针,振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板,将电源线、测试电缆线与电路板相连,而非直接与被测晶体振荡器连接,连接更为稳固可靠,减少了线缆软连接引入的噪声干扰,提升了测试可靠性。

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