本发明提供一种辐照实验板、监控终端、ASIC芯片辐照实验系统，其中，ASIC芯片辐照实验系统包括：监控终端、辐照实验板和智能电源，监控终端用于进行辐照实验的过程控制和数据显示；辐照实验板用于放置待测的ASIC芯片，根据监控终端发送的测试命令对ASIC芯片进行辐照实验测试，并将测试结果发送给监控终端；智能电源用于根据监控终端发送的电源控制命令对辐照实验板进行供电控制，并将根据监控终端发送的采集命令所采集到的ASIC芯片的各电压域的电压和电流数据发送给监控终端。本发明提供的技术方案，实现了对ASIC芯片的抗辐照实验及自动化控制。