本申请公开了一种半导体测试系统、测试分选机、测试机，所述半导体测试系统包括：测试分选机，包括：第一电路板，设置有多个第一测试通道，其中，每一所述第一测试通道设置对应的标识电路，每一所述标识电路对应有输出值；测试机，包括：第二电路板，设置有多个第二测试通道；测试连接线，用于将多个所述第一测试通道与多个所述第二测试通道一一对应电连接；其中，所述第二电路板用于获得与当前第二测试通道电连接的第一测试通道对应的标识电路的输出值，并根据所述输出值判断所述第二测试通道与所述第一测试通道的连接关系是否正确。通过上述方式，本申请能够降低测试分选机与测试机连接错误的概率。