公开(公告)号：CN109541439B

公开(公告)日：2020-11-13

申请号：CN201811506072.8

申请日：2018-12-10

申请人： 通富微电子股份有限公司

发明人： 王洋 ,  葛乃燕 ,  仲伟宏

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本申请公开了一种芯片测试进料方向的调整方法、检测装置、调整系统，该调整方法包括：利用检测装置侦测芯片的每边设置的第一引脚与第二引脚的电平输出信号，其中，芯片的至少两边分别设置有包括第一引脚和第二引脚的多个引脚，且芯片的非全部边的第一引脚与第二引脚之间连接有正向二极管；检测装置包括接地的第一侦测针和连接检测电路的第二侦测针，第一侦测针和第二侦测针分别与每边的第一引脚与第二引脚接触；根据侦测的芯片的每边对应的电平输出信号，以侦测出芯片中包括正向二极管的边；根据侦测出的芯片中包括正向二极管的边，以确定芯片当前的测试进料方向，并根据需要调整芯片的测试进料方向。通过上述方式，本申请能够确定并根据需要调整芯片当前的测试进料方向。

公开(公告)号：CN109013402B

公开(公告)日：2020-08-07

申请号：CN201811125543.0

申请日：2018-09-26

申请人： 通富微电子股份有限公司

发明人： 葛乃燕 ,  仲伟宏 ,  王洋

IPC分类号： B07C5/344

摘要： 本申请公开了一种半导体测试系统、测试分选机、测试机，所述半导体测试系统包括：测试分选机，包括：第一电路板，设置有多个第一测试通道，其中，每一所述第一测试通道设置对应的标识电路，每一所述标识电路对应有输出值；测试机，包括：第二电路板，设置有多个第二测试通道；测试连接线，用于将多个所述第一测试通道与多个所述第二测试通道一一对应电连接；其中，所述第二电路板用于获得与当前第二测试通道电连接的第一测试通道对应的标识电路的输出值，并根据所述输出值判断所述第二测试通道与所述第一测试通道的连接关系是否正确。通过上述方式，本申请能够降低测试分选机与测试机连接错误的概率。

公开(公告)号：CN109541439A

公开(公告)日：2019-03-29

申请号：CN201811506072.8

申请日：2018-12-10

申请人： 通富微电子股份有限公司

发明人： 王洋 ,  葛乃燕 ,  仲伟宏

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本申请公开了一种芯片测试进料方向的调整方法、检测装置、调整系统，该调整方法包括：利用检测装置侦测芯片的每边设置的第一引脚与第二引脚的电平输出信号，其中，芯片的至少两边分别设置有包括第一引脚和第二引脚的多个引脚，且芯片的非全部边的第一引脚与第二引脚之间连接有正向二极管；检测装置包括接地的第一侦测针和连接检测电路的第二侦测针，第一侦测针和第二侦测针分别与每边的第一引脚与第二引脚接触；根据侦测的芯片的每边对应的电平输出信号，以侦测出芯片中包括正向二极管的边；根据侦测出的芯片中包括正向二极管的边，以确定芯片当前的测试进料方向，并根据需要调整芯片的测试进料方向。通过上述方式，本申请能够确定并根据需要调整芯片当前的测试进料方向。

公开(公告)号：CN109013402A

公开(公告)日：2018-12-18

申请号：CN201811125543.0

申请日：2018-09-26

申请人： 通富微电子股份有限公司

发明人： 葛乃燕 ,  仲伟宏 ,  王洋

IPC分类号： B07C5/344

摘要： 本申请公开了一种半导体测试系统、测试分选机、测试机，所述半导体测试系统包括：测试分选机，包括：第一电路板，设置有多个第一测试通道，其中，每一所述第一测试通道设置对应的标识电路，每一所述标识电路对应有输出值；测试机，包括：第二电路板，设置有多个第二测试通道；测试连接线，用于将多个所述第一测试通道与多个所述第二测试通道一一对应电连接；其中，所述第二电路板用于获得与当前第二测试通道电连接的第一测试通道对应的标识电路的输出值，并根据所述输出值判断所述第二测试通道与所述第一测试通道的连接关系是否正确。通过上述方式，本申请能够降低测试分选机与测试机连接错误的概率。