一种利用后向散射纳米颗粒粒度测量装置实现的测量方法，属于颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：在样品池（1）的后侧依次设置有透镜（5）、激光器（8）和GRIN透镜（9），GRIN透镜（9）的输出端连接光电倍增管（10）的输入端，光电倍增管（10）的输出端连接光子相关器（11）的输入端；还设置有用于调节透镜（5）与样品池（1）之间间距的透镜调节装置，所述透镜（5）置于透镜调节装置内。通过本利用后向散射纳米颗粒粒度测量装置实现的测量方法，入射光和散射光均位于样品池后侧，因此散射光不需要完全穿过样品池内的测试样品，减小了散射光程，降低了多次光散射效应，实现了高浓度测试样品的粒度测量。